- 产品品牌：
- 蔡康
- 产品型号：
- XPR-300C
- 类型：
- 偏光显微镜
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一、仪器的主要用途和特点 XPR-300型透射偏光熔点测定仪（热台）是地质、矿产、冶金、石油化工、化 学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等常用的实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。 本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域，适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。 偏光显微熔点测定仪XPR-300系统汇集了光电、模式识别、精密加工、图象学、自动控制、模量学等总多研究领域的当前技术，多年研究开发的结果，在国内享有.本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。 | |
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| 二、仪器的主要技术指标 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
1.显微镜技术参数:
2.熔点仪技术参数:
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