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介电常数及介质损耗测试仪
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介电常数及介质损耗测试仪

产品价格:
电议
产品型号:
gdat-a
供应商等级:
企业未认证
经营模式:
工厂
企业名称:
北京北广精仪仪器有限公司
所属地区:
北京市
发布时间:
2014/9/18 9:23:19

010-66024083      13121673985

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北京北广精仪仪器有限公司

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经营模式:工厂

所在地:北京市

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介电常数介质损耗试验仪

介电常数介质损耗试验仪:GDAT-A
介电常数介质损耗试验仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
    
介电常数介质损耗试验仪的详细资料:
介电常数介质损耗试验仪概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路并联及串联电阻,传输线的特性阻等。
介电常数介质损耗试验仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。


介电常数介质损耗试验仪的技术指标
  1.Q值测量
   a.Q值测量范围:2~1023。
   b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
 c.标称误差
项    目
GDAT-A
频率范围
20kHz~10MHz;
固有误差
≤5%±满度值的2%;
工作误差
≤7%±满度值的2%;
频率范围
10MHz~60MHz;
固有误差
≤6%±满度值的2%;
工作误差
≤8%±满度值的2%。
2.电感测量范围:14.5nH~8.14H

3.介电常数介质损耗试验仪电容测量:1~ 460
项    目
GDAT-A
直接测量范围
1~460pF
主电容调节范围
准确度
30~500pF
150pF以下±1.5pF;
150pF以上±1%
   注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则
   4.介电常数介质损耗试验仪信号源频率覆盖范围
项     目
GDAT-A
频率范围
10kHz~50MHz
频率分段
(虚拟)
10~99.9999kHz
100~999.999kHz
1~9.99999MHz
10~60MHz    
频率指示误差
3×10-5±1个字
   5.Q合格指示预置功能
      预置范围:5~1000。
   6.Q表正常工作条件
   a. 环境温度:0℃~+40℃;                    
b.相对湿度:<80%; 
c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
   7.其他
   a.消耗功率:约25W; 
b.净重:约7kg; 
c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
   8.产品配置:
a.测试主机一台;
b.电感9只;
c.夹具一套  
电感:
 
线圈号    测试频率    Q值    分布电容p       电感值 
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH
            
  1   25MHz,50MHz   233,211    0.9       0.125μH
 
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介电常数介质损耗测试仪电感器:

按测试频率要求,需要配置不同量的电感器。

例如:在1MHz测试频率时,要配250μH电感器,在50MHz测试频率时,要配0.1μH电感器等。

 

高频介质样品(选购件):
在现行高频介质材料检定系统中,检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。

该样品由人工蓝宝石,石英玻璃,氧化铝陶瓷,聚四氟乙烯,环氧板等材料做成Φ50mm,厚12mm测试样品。用户可按需订购,以测试装置的重复性和准确性。

 

 介电常数介质损耗测试仪特点: 

◎ 本公司的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005

◎ 能对固体缘材料在10kHz120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值8nH100MHz(tanδ)(ε)的误差较小。

◎ LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生1kHz60MHz, 50kHz160MHz测试信号。信号   源输出口,所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

 

介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是10kHz120MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。

缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。

同样,由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化,通过公式计算得到介电常数。

 

 介电常数介质损耗测试仪主要技术指标:

 

2.1 tanδε性能:

2.1.1 固体缘材料测试频率10kHz120MHztanδε变化的测试。

2.1.2 tanδε测量范围:

tanδ0.10.00005ε150

2.1.3 tanδε测量(1MHz):

tanδ±5%±0.00005ε±2%

工作频率范围:50kHz50MHz    四位数显,压控振荡器

Q值测量范围:11000三位数显,±1Q分辨率

可调电容范围:40500 pF  ΔC±3pF

电容测量误差:±1%±1pF

Q表残余电感值:约20nH

 介电常数介质损耗测试仪装置:

2.3.1 平板电容器片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2
平板电容器间距可调范围和分辨率:08mm,±0.01mm
2.3.3
圆筒电容器线性: 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4
圆筒电容器可调范围:±12.5mm(±4.2pF
2.3.5
装置插头间距:25mm±0.1mm
2.3.6
装置损耗角正切值:2.5×10-4

联系方式

北京北广精仪仪器有限公司

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所在地:
北京市
类型:
工厂
地址:
北京市海淀区建材城西路50号2号楼

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