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XJTUMicro显微数字图形相关法全场应变测量分析系统
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XJTUMicro显微数字图形相关法全场应变测量分析系统

产品价格:
电议
产品型号:
XJTUMicro显微数字图形相关法全场应变测量分析系统
供应商等级:
企业未认证
经营模式:
工厂
企业名称:
西安交通大学机模具与塑性加工研究所
所属地区:
陕西省
发布时间:
2011/8/27 15:50:35

029 82664583      13201855477

陈军先生(联系我时,请说明是在维库仪器仪表网看到的,谢谢)

企业档案

西安交通大学机模具与塑性加工研究所

企业未认证营业执照未上传

经营模式:工厂

所在地:陕西省

主营产品:三维光学测量;光学三维密集点云测量系统;数字近景工业三维摄影测量系统;XJTUOM;XJTUDP;三维检测软件;三维逆向设计;云图三维测量;散斑三维图像处理;抄数机;三坐标;

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XJTUMicro显微数字图形相关法全场应变测量分析系统------微米和纳米级显微三维测量技术  近年来三维数字图像相关法DIC(digital image correlation)以其高、鲁棒性、方便性,广泛应用到众多学科的材料力学性能测试分析。西安交通大学在“XJTUDIC三维数字散斑动态应变测量分析系统”基础上,发展出四种显微数字图形相关法全场应变测量分析系统1. 基于单光路光学显微镜的二维全场应变测量2. 基于体式显微镜的三维全场应变测量3. 基于电子显微镜的二维全场应变测量4. 基于电子显微镜的三维全场应变测量一、基于单光路光学显微镜的二维全场应变测量普通光学显微镜多为单个光路,特点是价格便宜、放大倍数大,使用简单方便,是目前用量的显微镜。普通光学显微镜应用在全场应变,只能用于二维应变测量(也称为片内测量),较难用于三维全场应变测量。各种光学显微镜与“XJTUDIC三维数字散斑动态应变测量分析系统”配合使用,可以快速方便地实现二维全场应变测量分析二、基于体式显微镜的三维全场应变测量基于体式显微镜的三维全场应变测量采用CMO型体视显微镜(Common Main Objective ,CMO),配合“XJTUDIC三维数字散斑动态应变测量分析系统”进行三维全场应变测量分析。CMO型体视显微镜(Common Main Objective ,CMO)光路体式显微镜(Stereo Light Microscope,SLM)具有两个光路,分为两种类型:Greenough型体视显微镜(G-SLM)和CMO型体视显微镜(CMO-SLM)。G-SLM结构简单,加工相对容易,价格也便宜,可批量生产,适用于工业流水线,但是G-SLM的像面与聚焦面不平行,容易产生径向的图像失真,用于高的精密测量略显不足。CMO-SLM的像面和聚焦面平行,适于实验室等高精密环境中,但CMO-SLM价格偏高,加工过程复杂。Greenough型和CMO型体式光学显微镜的结构对比图CMO型体式光学显微镜的光路结构图三、基于电子显微镜的二维全场应变测量“XJTUDIC三维数字散斑动态应变测量分析系统”配合各种扫描电子显微镜  (Scanning Electron Microscope,SEM) 和原子力电子显微镜(atomic force microscopy,AFM),可以快速方便实现二维全场应变测量。扫描电子显微镜结构 电子显微镜二维全场应变四、基于电子显微镜的三维全场应变测量与各种扫描电子显微镜  (Scanning Electron Microscope,SEM) 和原子力电子显微镜(atomic force microscopy,AFM)配合,也可实现三维全场应变测量,需要进行多角度测量,利用工业摄影测量三维重建的原理,配合“XJTUDIC三维数字散斑动态应变测量分析系统”实现三维全场应变测量。五、显微镜的三维标定技术要实现显微三维测量,首先要解决显微镜的三维标定技术。   在“XJTUDIC三维数字散斑动态应变测量分析系统”的基础上,研制了各种显微镜的微小视场三维标定方法各种显微三维标定显微应变测量使用的微小拉力试验机随着科学技术的不断发展,微纳技术己经成为当今科技发展的前沿科学之一。显微镜是显微视觉系统的标志性设备,显微镜技术的发展推动和加快了显微视觉系统的发展及应用,尤其是现代显微镜具有高倍率、高分辨率和高清晰度等卓越性能,可以提供高质量的图像,极大地提高了显微视觉系统的分辨能力。显微视觉的发展带动了相关理论与技术的进步,为了适应和进一步促进显微视觉的发展,图像分析、图像处理与测量技术等均在不断地发展并涌现了大量新方法。显微视觉中的显微立体视觉能够实现立体成像功能,近年来越来越受到重视,在微操作、微装配、微注射、微测量等领域得到了广泛的应用。显微立体视觉系统不同于宏观立体视觉系统的显著特点就是在成像过程中加入了放大环节,因此,显微镜是实现显微立体视觉系统不可或缺的组成部分。扫描电子显微镜  (Scanning Electron Microscope,SEM) 具有放大倍率高、焦深大、分辨率高等特点,是这一领域应用较多的一种显微镜,但其不足之处是操作复杂且设备昂贵。相对于扫描电子显微镜,体视显微镜 (Stereo Light Microscope,SLM)在这方面的应用相对少些。SLM具有工作空间大、工作距离大、便于微观对象的操作、非接触式观测、对微观对象无损伤和实时性好等优点,它的应用日益广泛。    西安交通大学 机械工程学院 模具与先进成形技术研究所 信息机电研究所地址:陕西省西安市咸宁西路28号 西安交通大学机械工程学院 邮编:710049电话:(技术支持),、转807电子邮件:   网站:www.xjtuom.com传真: 转763026#以上是XJTUMicro显微数字图形相关法全场应变测量分析系统的详细信息,如果您对XJTUMicro显微数字图形相关法全场应变测量分析系统的价格、厂家、型号、图片有什么疑问,请联系我们获取XJTUMicro显微数字图形相关法全场应变测量分析系统的新信息。

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陈军先生
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所在地:
陕西省
类型:
工厂
地址:
陕西省西安市西安交通大学机械工程学院

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