| 品牌 | BudgetSensors | 型号 | Multi75E-G-10 |
| 测量范围 | 200nm 以上的细节的更平衡成像 | 测量 | 25 nm |
| 外形尺寸 | 3.4×1.6×0.3（mm） | 用途 | 用于AFM测试，EFM静电力显微镜 |
BudgetSensors Multi75E-G导电AFM探针
产品描述
BudgetSensors®的AFM探针用于您AFM测量，能测量的正确结果。
探针是用单晶硅做的，能适用于大部分的商业AFM（VEECO, DI Nanoscope, Asylum Research, Agilent/Molecular Imaging, PSI, JEOL,…）。
从测量结果的度、匀称性、密度方面来说，BudgetSensors®的探针测量结果过别的商业SPM硅探针的测量结果。
•力调式、脉冲力成像模式PFM、电力式
-扫描电容显微镜SCM
-静电力显微镜EFM
-表面电位显微镜KFM
-扫描探针平版印刷
•旋转的单晶硅探针，对称针尖
支架尺寸：3.4×1.6×0.3 mm（在这种产品支架背上有调节凹槽）。
•涂层:臂双面可以涂上5nm厚的导电铬涂层和25nm厚的电导铂涂层。
这种涂层可以增强悬臂的激光束反射性。
•这种对称的针尖安装在探针时产生“扫描倾斜角”效果,
这能200nm以上的细节的更平衡成像。
应用范围：
EFM等导电AFM应用
技数据
Technical Data | Value | Range |
Force Constant | 3N/m | 1 - 7 N/m |
Resonance Frequency | 75 kHz | +/- 15 kHz |
Length | 225µm | +/- 10 µm |
Width(rectangular part) | 28 µm | +/- 5 µm |
Thickness | 3 µm | +/- 1 µm |
Shape / Cross-section | - | |
Nuer of Cantilevers | 1 | |
Tip Offset | 15 µm | +/- 5 µm |
Tip Style | - | |
Tip Height | 17 µm | +/- 2 µm |
Tip Radius | < 25 nm | |
Half Cone Angle | 20º- 25ºalong cantilever axis 25º- 30ºfrom side 10ºat the apex | |
Material | Silicon | |
Chip Size (industry standard) | 3.4×1.6×0.3 mm | |
Coating (optional) | Conductive Cr/Pt on both sides | |
Contact Resistance | 300 Ohms on platinum thin film surface | |
订购型号
数量 | 涂层 | 悬臂参数数据 | 悬臂数 | 订购编号 | 价格 |
10根 | 双面的导电铬、铂涂层，调节凹槽 | 无 | 1 | Multi75E-G -10 | 询价 |
50根 | 双面的导电铬、铂涂层，调节凹槽 | 无 | 1 | Multi75E-G -50 | 询价 |
