| 型号 | ROHS |
仪器介绍
该X荧光光谱仪，它不同于其它的测厚仪的下照式和封闭样品腔的设计，而是采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量
应用领域：黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和饰加工行业；银行、饰销售和检测机构；电镀行业。
主要特点
该X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的、快速测定
1、主要针对大部件的镀层厚度和含量的、快速测定；
2、同时可分析多达5层以上镀层；
3、相互的基体效应校正模型，厚度分析方法；
4、采用上照式、开放式样品腔；
5、采用上下活动的玻璃屏蔽罩，避免了测试的X射线外泄；
6、三维的样品移动平台和双激光定位；
7、现代化的外观、结构和色彩；
技术参数
仪器技术指标：
元素分析范围从钠（Na）到铀（U）。
可同时分析多24个元素。
分析检出限可达1ppm。
分析含量一般为1ppm到99.9％。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
多次测量重复性可达0.1％。
长期工作稳定性为0.1％。
温度适应范围为15℃至30℃。
电源:交流220V&plun;5V,建议配置交流净化稳压电源。
配置：
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
售后服务及价格：1、仪器一年保修。
2、产品维修，提供上门维修和排除故障服务。
3、产品软件升级。
4、上门安装，并对用户操作人
员进行培训。 5、产品价格是含税价（17%增值
税），并包运费。
