| 类型 | 散斑干涉仪 | 品牌 | VEW |
| 型号 | GE100000 | 品种 | 散斑干涉仪 |
| 测量范围 | 30×40CM | 测量分辨率 | 1392×1040 |
| 近工作距离 | 1（mm） | 用途 | 用于检测复合材料内部的非均匀性，如分层、脱粘、夹杂等 |
用于复合材料检测的黄金眼剪切干涉测量系统（激光散斑错位干涉测量系统）
黄金眼剪切干涉检测系统主要用于检测复合材料内部的非均匀性，如分层、脱粘、夹杂等。显示出的非均匀性可用鼠标进行标记，从而确定所显现缺陷的横向大小和在测量视场中的位置
该测量技术用激光照射材料表面，将反射回的波面横向平移位移后同未平移的波面进行自涉，形成干涉条纹。当被测材料由于开裂，剥离，内部包含异物，凹陷，受挤压，或是多层材料出现脱层等现象，则材料表面的干涉模式会出现局部不连续。
该系统由VEW与不来梅应用光学研究所（BIAS）合作开发
与采用电机驱动反射镜的其他常规剪切干涉系统不同，黄金眼系统次使用了电控的空间光调制器
（SLM）来实现剪切和相移。（已申请）测量场可以进行动态或温度加载。
动态加载通过压电传感器（Piezo）来实现。压电传感器经真空紧密贴合在材料表面，由软件控制产生量的振动。其振动频率可变，从而可与材料的机械性能相匹配。温度加载则可通过热光源的照射来实现。
