| 品牌 | 南奇星 | 型号 | FX-1 |
| 测量范围 | 室温~100（℃） | 装箱数 | 1套 |
法向发射率测量装置
用于测量材料表面法向发射特性。主要技术指标
探测器：平面热电堆；工作温度范围：室温~100℃；峰值波长：8.4~11μm；测量范围：0.05~0.99；
测量不确定度：当εn>0.7 为&plun;1.5%；当εn<0.2 为&plun;5%；其余为2%
吸收率测量装置
用于测量材料表面吸收发射特性。主要技术指标
积分球直径：Φ150；光源高色温：220V300W；探测器：真空平面热电堆；工作温度范围：-10~70℃；工作波长：0.35~2.5μm；
测量范围：0.02~0.99；测量不确定度：当αs>0.8 为&plun;2.0%；当εn<0.2 为&plun;4%；其余为2.5%
以上技术指标不能满足客户需求的，可来电定制。
