| 品牌 | 南京勤笙 | 型号 | QS-100-P6 |
| 测量范围 | 1MHz--60MHz | 测量 | 1E-7/s |
| 产品用途 | 晶体谐振器测试 |
QS-100-P6型智能晶体测试仪
QS-100-P6型智能晶体测试仪是一款MHz晶体、晶片测试仪，可以测试1～8路晶体频率。它采用微处理器技术，实现了智能化测量。本仪器采用倒数计数技术实现等测量。它测量高，灵敏度高，速度快，测量速度可调节；具有频率测量、PPM测量功能；中心频率（标称频率）F0、上限PPM值Pu 、下限PPM值PL可任意设定并能存储。仪器具有RS
主要技术指标：
1． 测量路数：1～8路，用户订购时确定
2． 频率测量：1MHz～60MHz（自带起振）
1Hz～ 100MHz（外部起振）
3． PPM测量：－9999～＋9999ppm
4． 测量：0.05ppm/秒
5． 测量时间：50ms～500ms 连续可调节
6． 报警声响方式：不响、不合格时响（NG）、合格时响（OK）可选
7． 通讯方式：双向RS
8． 内部晶振稳定度：常温下 1×10－6／日
9． 可测晶体尺寸：SMD：7050、6035、5032、3225、2520、2016
常规：49S、49U、DIP8、DIP14…… （可按需定制）
欢迎各晶体生产厂商、设备生产厂商垂询、选购。
南京勤笙电子有限公司
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