EDS Analysis for SEM and TEM (Energy Dispersive Spectrometry) XFlash? 5000系列硅漂移(SDD)探测器,新版ESPRIT软件系统
定性和定量的解决方案
QUANTAX CrystAlign Fully-integrated high-speed EBSD analysis system e–Flash1000EBSD探头(Electron Back Scatter Diffraction)

e–Flash1000EBSD探头集高速、高灵敏度、高灵活性和高可靠性于一身,探头的移动和参数设置都可以通过计算机软件系统完成,硬件连接只需一根电源线和两根信号传输线即可实现。 小漂移效应 某些样品或SEM样品台容易出现漂移现象,因此,在应用过程中,应尽量缩短采集时间来提高花样质量。布鲁克的EBSD探头的采集速度高达630花样/秒(4x4binning),800花样/秒(8x8binning)。pattern streaming的独特设计使得采集速度与样品中包含的花样数独立,因此,该方式保证了快的采集数度,尽可能的减小样品污染和漂移现象。 高速、高 基于e–Flash1000的快速记录性能,它具有的角分辨率,在高速测量时也能保持的角分辨率。e–Flash1000在640x480分辨率模式下对当前样品的精细结构进行深入分析时,仍然能获得210 Patterns/s的采集效率。 原位可调的探头 e–Flash1000探头竖直方向可调,无论SEM高压处于开启还是关闭状态都可实现。在采集设置过程中,它对信号的优化和调整工作距离非常有帮助。在电镜样品台不移动的前提下,可实现扫描的范围高达100mm2,对电镜切换到低工作距离和高放大倍数没有任何影响。在EBSD和EDS同步检测时,该功能更具优势。 前置背散射/后置背散射探头(可选) 前置背散射(FSE)和后置背散射(BSE)组件可以根据客户要求选择性的配置到e–Flash1000探头上。它可进一步提高检测器的配置,并对更高效、更广泛的EBSD分析提供更多有用的信息。 安全操作保证 蓝色LED指示灯显示EBSD探头伸入和推出SEM样品腔。集成的触发器可实现10mm/s的速度立即将探头推出。同时磷屏更换非常简便,可由用户自行完成。 其他主要功能 数据再分析功能–花样再标定速度高达16,000点/秒;信号助手;校准助手;无缝式集成;极图(PF);反极图(IPF);花样质量分布;相(Phase)分布;反极图
详情可见网站:https://www.dymekchina.cn/