薄膜测量领域的#1品牌
F70使用新的颜色编码厚度测量法(CTM)极大了拓展了可测膜层厚度，使其达到了3.5mm的历史新高度。而且，CTM的主要优点在于受膜层的粗糙度和非均匀性的影响比较小，而且能测量曲面镀膜的厚度。
F70有以下测量范围以供选择，具体规格如下：
| Lens Assembly or Upgrade Kit | Thickness Range (Index=1.5) |
Precision | Spot Size |
| UPG-F70-SR-KIT | 15 nm-50 μm | 0.1 nm | Standard 1.5 mm (Optional down to 20 μm) |
| LA-CTM-VIS-1mm | 50 μm-1.5 mm | 0.15 μm | 5 μm |
| LA-CTM-VIS-2.4mm | 150 μm-3.5 mm | 0.1 μm | 10 μm |
*以上数值会因薄膜堆叠层数变化而有所不同。
应用
●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。
●玻璃或塑料的板材、管道和容器。
●光学镜头和眼科镜片。
优势及售后服务：
- 拥有130多种材料的数据库
- 软件更新
- 工作日应用工程师24小时的技术支持
- 在线“手把手”支持
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