2、观察范围可从1.5毫米至50毫米。
3、采用激光笔辅助样品定位。
4、X光管的Z轴可动控制(FOV和放大率控制)。
5、X光管探测器的Z轴可动控制(FOV和放大率控制)。
6、载物台可作±60°倾斜。
技术参数具体型号经济型E80/100/130光管类型封闭管/ Sealed tube光管电压80kV、100KV、130KV光管电流0.15mA光管聚焦尺寸4.5-7um冷却方式风冷/ air cooling几何放大倍率125X载物台大小(mm)400*400*270载物台旋转角度±60°增强屏视场4/2 inch增强屏解析度75 lp/cm尺寸(mm)1450*1400*1750mm重量约770 kg电源AC110-230VAC, 50/60Hz计算机Windows®XP 17”CRT /LCD Intel Pentium IV工作环境温度0-40℃辐射安全标准美国FDA安全辐射标准保修期一年保修应用领域View X高解析度X光无损探伤仪主要使用于BGA、CSP、flip chip、半导内部以及多层电路板的质量检测,并能快捷清晰地检测电路板的焊接情况,特别适用生产过程的质量检测和返修后的质量检测。