Planum-3000全自动透光率/反射率测定仪
用途：用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。
Planum-3000全自动透光率/反射率测定仪-技术参数：
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类别 |
I型 |
II型 |
III型 |
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探测器 |
Sony
ILX511 x线形CCD阵列 |
Sony
ILX511 x线形CCD 阵列 |
Hamamatsu S7031背照式2D-CCD |
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检测范围 |
380-1000nm |
380-1100nm |
360-1100nm |
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波长分辨率 |
<1.35nm |
<1.35nm |
<1.35nm |
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信噪比（全信号） |
250：1 |
250：1 |
1000：1 |
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相对检测误差 |
<0.6%(400-800nm) |
<0.6%(400-800nm) |
<0.2%(400-800nm) |
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操作方式 |
手动 |
电动 |
电动 |
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角度分辨率 |
0.1 o |
<0.0002o |
<0.0002o |
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重复定位： |
- |
<0.005 o |
<0.005 o |
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旋转速度: |
- |
25 o/s |
25 o/s |
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透射/反射测量角 |
>8o ， <80 o,可扩展到5o |
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单次测量时间 |
<100ms |
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S/P光测量 |
可以 |
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样品尺寸 |
>5mm |
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操作系统/接口 |
Windows XP Vista /USB2.0 |
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产品尺寸 |
1020mm*485mm*300mm |
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功率/电源： |
100W/220V-50HZ |
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其他 |
可自定义打印报表格式，开放式光学材料光坯反射率数据库 |
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