涂层测厚仪、膜厚仪、膜厚计、牛津总代理

涂层测厚仪、膜厚仪、膜厚计、牛津总代理的详细信息

/*110922_中文版_新中间页_中间_300*250*/ var cpro_id = 'u620430'; 产品简介:X-Strata 960 X-RAY萤光膜厚量测仪可应用于电镀、涂层、合金、镀膜和电镀液中Ti(22)~U(92)间元素的测定和组成，100W微焦X射线管保证高分析和更短的量测时间。适用行业:用于电子元件、半导体、PCB印刷电路板、汽车零件、功能性电镀、连接器、装饰件等。产品特色:●快速非破坏性EDXRF量测技术●Ti(22)~U(92)间元素自动辨别●一体化设计，提供便捷操作方式●强大的统计功能●NIST标准片●测量范围宽产品规格:分析元素范围: Ti(22) – U(92)分析层数和元素定量:可同时分析5层(4层 基体)多同时15种元素定量X射线管:100W(50kV-2.0mA)微聚焦点钨靶X射线管 (可选钼靶X射线管)检测器: 氙气(Xe)正比计数器，多可装3种二次滤光片准直器: 多4种数字脉冲处理器:4096多频道数位分析器,包含自动波谱校正和Pulse Pile Rejection功能CCD: 1/3” CCD 640 x 512 Pixel array, 500 line/inch电源: 85-130V或者215-265V、频率47-63Hz工作环境: 10－40℃、相对湿度小于98%样品台移动量: 程控XYZ轴：300 x 200 x 230mm; 手动XY轴：250 x 250mm＋230mm程控Z轴仪器尺寸:H744 x W686 x D813重量: 135磅规格说明:X射线激发和检测：牛津仪器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管高解析度氙气(Xe)正比计数器：可获取的计数灵敏度，配合二次滤光器机构实现的检出效果4096多频道数位脉冲分析器：数位光谱处理过程可获取的信号采集(每秒计数量)，从而保证的测量统计结果手动或自动透镜控制 手动透镜控制：通过手动调整DIM旋钮控制分析聚焦距离自动透镜控制：激光束自动寻找DIM系统的分析聚焦距离自由距离测定：简化系统设置和维护在聚焦距离范围内仅需要一个校正对不规则样品更灵活的测量在12.7mm-88.9mm的自由距离内，可准确测量样品表面的任何一点通过DIM旋钮或使用自动激光聚焦功能，可快速、准确的确定聚焦距离附带自动透镜功能的自动激光聚焦 独特的、自动样品摆放系统激光扫描单键启动消除样品碰击Z轴的机会改善DIM的聚焦过程标准激光聚焦：标准激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自动寻找正确的Z轴位置，提高分析再现性，结果不受人为操作的影响Z轴聚焦扫描单键启动改善DIM和常规固定焦距测量时的聚焦过程微小准直器：仪器至少装备一个客户指定规格的准直器以优化测量，并提高测量效率备有各种规格准直器(0.015mm – 0.5mm),圆形或矩形供客户选用多准直器程序交换系统可同时安装4个准直器大样品室设计：方便超大样品的推拉式平台：如大面积PCB板、较长的管材样品大型开发式样品室：方便于从各方向进样和观察样品三种样品台备选：可编程XY轴样品台、手动XY轴样品台、固定位置样品台标准配置自动化Z轴：高度230mm集成化计算机工作站式设计：改善人机工程学、方便使用简化设备安装：仅需要接入主电源线，没有其他电缆减少整机占用空间USB和Ethernet接口：打印机、刻录机、区域网路和远程在线支持功能其他硬件特点：CCD相机拥有2x、3x或4x的变焦功能，可实现对测定样品的高分辨、实时、彩色图像观测温度补偿功能监测系统温度，并自动校正由于温度变化可能引起的仪器漂移，保证长期的仪器稳定性光谱校准、单击鼠标执行系统性能自检和校正程序保证仪器长期的稳定性美观且耐用的仪器设计适用于各种工业环境