武汉XP2U超微量天平/武汉梅特勒微量分析天平

规格 - XP2U超微量天平 极限值 XP2U 称量值 2.1 g 可读性 0.0001 mg 重复性(sd) - 加载处 0.00025 mg - 低加载（加载处） 0.0002 mg (0.2 g) 线性误差 0.001 mg 四角误差（加载处）1) 0.0025 mg (1 g) 灵敏度漂移 1.5 x 10-5 灵敏度温度漂移 2) 0.0001 %/°C 灵敏度稳定性 3) 0.0001 %/a 典型值 4) 典型重复性（sd） 0.00015 mg+2.5 x (10–8)· R_gr  典型微分非线性（sd） √8x(10-14) · g · R_nt 典型微分四角误差（sd） 8 x (10–7) . R_nt 典型灵敏度偏移（sd）2) 3x(10-6)· R_nt 典型小称量值*（符合USP） 0.45 mg+7.5 x (10–5) · R_gr  典型小称量值* (@ U=1 %, 2 sd) 0.03 mg+5 x (10–6) · R_gr  典型稳定时间 < 10 s 梅特勒-托利多XP2U是一台创新的超微量天平：提供卓越的称量性能，用户友好界面和质量标准。XP2U超微量天平具有21,000,000的至高分辩率。SmartScreen彩色触摸屏、可设置的显示界面、智能用户向导、以及无需用手接触的SmartSens红外感应器控制的防风罩，使这种高天平比以往更快、更容易、和更高效。梅特勒-托利多XP6微量天平和XP2U／XP6U超微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计，同时确保网络兼容性。 以上是武汉XP2U超微量天平/武汉梅特勒微量分析天平的详细信息，如果您对武汉XP2U超微量天平/武汉梅特勒微量分析天平的价格、厂家、型号、图片有什么疑问，请联系我们获取武汉XP2U超微量天平/武汉梅特勒微量分析天平的新信息。