·基本：±0.8%
·的校准和误差补偿技术
·四种元件用的测试夹具（被测件尺寸：0.5mm~20mm)
·在两上通道内选择参数
·直接读出介电常数，导磁率
·两种材料用的夹具（工作温度范围：-55℃~-200℃）
·能进行多种分析（温度、科尔图、弛豫时间）
·多种扫描参数（频率、交流电平、直流偏置、温度）
性能群
Agilent4291B射频阻/材料分析仪能方便。高地测量表面安装元件，电介质材料和磁性材料。蛇一反以往的反射测量技术采用直流电压——电流测量技术，从而可在宽阻范围进行低损耗元件分析。内部合成器对1MHz至1.8GHz的频率扫描，分辨率为1mHz，1.8m长的无误差电缆将分析仪接至测试台，因而扩展了分析仪至测试点的距离，且于测量，的校准技术和误差补偿功能消除了夹具测量误差因素，从而了DUT/MUT测量的重复性和高。
Agilent 4291B通过IBASIC编程功能还提供对测试信号的电平自动控制和监测，可在恒压，恒流状态下测量器件。借助可选择的直流偏听偏置（达40V，100mA）可测量依赖于偏置的阻特性。按动旋钮，内设等效电路分析功能自动计算5个电路模型的电路带数值。
Agilent 4291B有两上测量通道：每个通道均可设定测量单（即Z）或双（即Z-θ）阻参数，彩色、分害薄膜晶华丽管（TFT）可显示两条现行的扫迹和存储扫迹（存储在随机存取存储器内）内设软盘驱动器用于以LIF或MS-DOS格式存储程序和测试数据。
利用内置IBASIC，可以直接由Agilent 4291B控制外部测试设备，如恒温箱或晶片检测器，而无需单元独的仪器控制器。
主要特性：
·可直接读出材料参数（介电常数、导磁率）
·具有材料分析功能（科尔图，弛豫时间分析）
·借助多种扫描参数（频率、信号电平、湿度等）进行广泛的评价。
测试夹具
可以选择以下四种元件测试夹具：Agilent 16191A,16192A,16193A和16194A。这些夹具有直接接到测试台的APC-7连接器上，每种夹具都是针对不同的元件尺寸范围（从0.5mm到20mm)来设计的，可以连接不同类型的终端。这几种可调节的夹具简化了器件的连接。对于温度系数的测试，HP 16194A高温元件测试夹具可用于温度范围从-55℃到+200℃的恒温炉内。该夹具与4291B的内置补偿软件一道工作时，能阻测量的和重复性。16453A介质材料测试夹具和16454A磁性材料测试夹具了测量介电常数和导磁率的测量，简化了测量过程。这些材料夹具的有从-55℃到+200℃的宽广工作温度范围。
对于薄膜器件和半导体的测试，Agilent 4291B很容易接到晶片检测器上。用一根加长电缆将4291B的测试头接到检测座上，对于温度和湿度的测试，4291B可以通过GPIB对外部/湿度室进行控制，并显示出结果随温度或湿度变化的情况。
使用方便
利用Aglient 4291B对阻进行测试十分方便，分析仪加入了在线校准和补偿程序，以简化测试任务。标记和限线功能提供了快速数据分析。
