Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任. 轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的. 备有Compact eco , Compact 5 , Mixx4 , Mixx5等型号选择,可测量各类金属层、合金层厚度,附带功能:合金成份分析,电镀液成份分析,中文简体、繁体、英文操作系统。
可测元素范围:
钛(Ti) – 铀(U)
可测量厚度范围:
原子序22-25,0.1-0.8μm
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm
自动测量功能:编程测量,自定测量
修正测量功能:底材修正,已知样品修正
定性分析功能:光谱表示,光谱比较
定量分析功能:合金成份分析
数据统计功能:x管理图,x-R管理图,直方柱图。
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.完全超越其他品牌的所谓FP软件.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
多年来,我们一直致力于为PCB 厂商,电镀行业,科研机构,半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和优质的售后服务。让客户满意,为客户创造的价值是我们始终追求的目标,因为我们坚信,客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图!
生产过程中能及时发现瑕疵是很重要的,所以我们研制了PTH-1/ITM-52这部手提式测厚仪,测量线路板孔内镀铜(PTH)厚度,同时也能测量敷铜板的铜箔厚度。PTH-1/ITM-52能够快速地提供答案!技术原理:涡流式可测量板:不限最薄可测量板:1.0mm (40 mil)最厚可测量板:2.4mm (96 mil)探针插入方法:手动 (或用探针座)自动板厚度和孔径辨別:不需要最小能测量孔: 0.45mm (18mil) *能测量孔: 2.0mm (80 mil) *孔壁Cu厚度测量范围:2.5um - 100um (0.1mil-4 mil)铜箔厚度测量范围:SP-100 选件※15um-100um (0.6mil-4.0mil)适用于单层、双层及多层板测量孔內镀铜厚度。无论已蚀刻和未蚀刻及已镀锡(Sn)和未镀锡(Sn)的线路板均可快速地测量出孔內镀铜厚度。能测量的孔径小至0.45mm (18 mil) 选件※双功能,测量线路板孔内镀铜(PTH) 厚度,及敷铜板的铜箔厚度。选件※高解度之LCD显示,坚固耐用之键盘。可充电电池及交流連接器 (200V)表面镀钛的探针可进行湿板测量,不会腐蚀探针。专利以涡流式设计,相比其他同类仪器能更少地受铜表面或蚀刻墊的影响。內建功能包括:标准统计功能,长方条表示的统计和索引功能。可储存高至15,000个测量数据,及通过RS-232C传送测量数据。多年来...
极高性价比,操作简单方便. 40X,100X,400X,600X,1000X可选倒置式,三目输出,配备CCD.可调光源正厂品牌电脑,17’’平面显示器.软件测量各种数据,包括点与点距离,角度,面积,平行线距离等.分辨率:0.1um广泛用于PCB,工矿,五金等行业.多年来,我们一直致力于为PCB 厂商,电镀行业,科研机构,半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和优质的售后服务。让客户满意,为客户创造的价值是我们始终追求的目标,因为我们坚信,客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图!