产品介绍
第三代3DFAMILY X射线荧光分析仪,采用世界上的硅SIPIN探测器(分辨率为150ev),实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自动切换的滤光片及透射式X射线球管,地缩小了X射线源与被测物体的间距,从而在较低的电压下达到同样的激发效率,同时减少了漫射光的干扰,大大地提高了灵敏度和读数的准确性,重复性。
产品特点
1、在测定微量成分时,由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响,此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片,有效地降低了背景和散射X射线的干扰,调整出感度的辐射,进一步提高了S/N的比值,从而可以进行更高灵敏度的微量分析。 2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,软件可自动过滤背景对分析结果的干扰, 从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。 3、当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近,会使此时谱图的波峰重叠在一起,由 此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰,确保了元素分析的正确性。 4、逃逸峰:由于采用的是Si针半导体探测器,因此当X射线荧光在通过探测器的时候,如果某种元素 的含量较高(能量也会相应的较高),其被Si吸收的概率也就越大。此时,光谱图中在该元素的能量 值减去Si能量值的地方回产生一个峰,此峰即为逃逸峰。 5、在电压不稳的情况下,可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。 技术参数
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产品概述: T320数字化智能超声波探伤仪采用彩色高速宽温工业级TFT_LCD液晶显示屏,国内的技术设计,检测速度快、精度高、波形稳定。该仪器可用于多种材料内部缺陷的检测,如钢、铜、铝、铸锻件、以及金属焊缝等等,可有效检测出气孔、裂纹、疏松、夹杂、未融合、未焊透等缺陷。广泛应用于航空航天、石油化工、冶金电力、铁路交通、锅炉压力容器、钢结构、机械加工等领域的在役安全检查、寿命评估、质量控制等! 功能特点: 超大彩屏——彩色高速宽温工业级TFT_LCD液晶显示,多种颜色选择,适用于不 同的光线条件,背光连续可调。 高采样率——10位高速实时采样,较8位采样测值更加精确 曲面校正——便于对非规则材料和小管径管件进行检测 双模曲线——DAC曲线、DGS曲线两种模式可选 电量监控——以百分比的形式显示电量,方便监测,并具有过充过放保护 方便通用——可以自由设置各行业探伤工艺标准,现场探伤无需携带试块。 B-扫描——可显示工件缺陷形状,完备的焊缝和工件剖面显示,使探伤更具权威。 打印功能—直接驱动打印机,打印厚度报告与波幅曲线。 PC通讯—测量数据和系统设置参数直接上传,探伤报告自动生成。 技术参数: ...