供应激光测距仪ZLDS100测量往复铁块的位移
| 价 格： | 面议 | |
| 型号/规格： | ZLDS100 | |
| 品牌/商标： | ZSY |
激光测距仪测量背景：
在一个平台上测量铁块的往复运动，以此来测量相关的参数。往复的位移量有二十几毫米的大小，要求精度小于0.025mm，由于测量往复运动所以选择了起始位移有45mm的，由于它自身的运动频率到达了1k，在这种情况下测量，要选择一个10倍测量的频率，以免使数据丢失，所以我们选择了9.4k的采样频率。
激光测距仪 测量方法：
将传感器固定安装，使铁块在一条直线内做往复运动，在9.4k的采样频率下，可以测量量程25mm的，精度为0.025mm的一个测量值。
ZLDS100测量示意图
激光测距仪主要特点：
ZLDS100系列激光传感器采有数字化集成一体化结构设计，工作温度范围宽，特别适用于工业环境高精度应用，例如物体形变。
ZLDS100激光测距仪产品除标准系列外，还可根据用户的特殊需要定制。如果您不了解产品性能是否能满足您的需要，您可申请样品试用，我们帮您解决试验过程中的问题，直到您满意为止。
激光传感器可订制各种尺寸，能够适应恶劣环境。同时提供了在计算机上运行附带的传感器软件。该软件提供简单的数据读取、显示以及传感器参数设置功能，方便物体形变等测量。
ZLDS100系列激光测距仪提供了一个传感器开发库(目前仅支持Windows)，以DLL形式提供，封装底层串口通讯协议细节，提供简单易用的编程接口，便于开发人员快速进行应用软件的开发。
ZLDS100 激光测距仪的主要特点有：
n ZLDS100R-4-39传感器可用于镜面和玻璃的表面测量；
n 量程起始距离最小10mm，260mm(其他距离可订制)；
n 分辨率0.01%,线性度0.1%；
n 支持多个传感器同步采集(确保工业在线高精度差动测厚)；
n 支持特殊量程(如远距离起始700mm小量程300mm等)；
n 针对串口，提供了运行应用的DLL开发库，方便用户开发应用软件；
n 非接触位移精密测量；
n 特殊应用(如路面平整度，高温被测体，管道内径，
n 石油钻杆内外螺纹测量等均可定制)；
n 量程最小2mm，1250mm(其他量程可订制)；
n 频率响应：2K、5K、8K、9.4K；
ZLDS100激光测距仪 的应用领域十分广泛：
ZLDS100 激光测距仪除了可以测量物体形变，还广泛用于火车轮轮缘轮廓测量，公路车辙、平整度测量。也可用于非接触测量位移、三维尺寸、厚度、物体形变、振动、分拣及玻璃表面测量等。
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供应激光测微计XLS80单轴激光扫描直径传感器
信息内容：单轴XLS40、XLS80和XLS150激光测微计配六位LED数显表，由遥控器控制。有报警设定和输出，模拟输出±10V。 激光测微计应用领域 激光测微计可用于物体尺寸的非接触测量与控制，如零件高度、边缘、直径、线径、宽度、间隙、内径、外径等 量程：0.75～78mm 分辨率：0.01μm 线性：±1μm 重复性：±0.3μm 通过以太网接口RS232/RS485与PC,SPS或NC通讯，完成智能超精密直径轮廓测量。 XLS40单轴激光扫描直径传感器 XLS80单轴激光扫描直径传感器 dzsc/19/4212/19421206.jpg 量程：0.06～38mm 分辨率：0.01μm 线性：±0.5μm 重复性：±0.7μm dzsc/19/4212/19421206.jpg 量程：0.75～78mm 分辨率：0.01μm 线性：±1μm 重复性：±0.2μm ILS13XY双轴激光扫描直径轮廓传感器 XLS13XY双轴激光扫描...
供应激光测微计ZM100测电池直径
信息内容：该公司的主要应用为检测电池的直径。直径为50mm，精度为±0.05mm。该公司主要是做自动化仪器的。客户做的是成套的自动化设备产品，把我们的产品放在机器里。客户成套设备里有白炽灯照射的情况下密封真空测量。 ZM10X激光测微计有三种型号，分别为ZM100-25、ZM100-25D、ZM100-5和ZM105。单个传感器独立可测59mm的物体直径，通过多传感器协同工作可测直径高达500mm，在检测物体外径方面提供了非常方便的测量方式。 激光测微计可用于物体尺寸的非接触测量与控制，如零件高度、边缘、直径、线径、宽度、间隙、内径、外径等。有效降低了生产后的单件检验成本，并能有效节省原物料的损耗，降低人员需求。 ZM10X激光测微计由两部分构成：发射器1 和接收器2。激光发光二极管3的光通过光学系统4形成了光幕。被测物体5的阴影图像通过望远镜系统6最终形成在线性CCD阵列7上。信号处理器9计算出它的大小。 主要特点 高精度：线性度±2um； 量程范围广：可测500mm外径的物体（可根据实际情况定制更大外径型号）； 支持多个传感器同步采集（确保工业在线高精度差动测厚）； 可以对操作系统实施不同的参数设置，改变测量方式...
