光谱共焦传感器 纳米位移计
NLS11/12光谱共焦传感器测量系统基于光谱共焦的原理,由光学头和控制器组成,之间通过一根光缆连接。光谱共焦传感器进行了小型化的封装,便于集成到现有的系统中。
应用领域
应用于表面难以测量的物体(技术性及困难表面),是一种非接触式轮廓测量的通用的测量解决方案。理想情况下,光谱共焦传感器适合于敏感的,软的或液体的表面。适用于微机械工程,电气工程,光学行业,塑料和造纸行业,半导体和PCB产业的检测,工具行业等。
光谱共焦传感器主要特点
◆纳米级分辨率;与光强度无关,与被测体反射系数无关;
◆坚固的结构,使用寿命长;
◆易操作且动态测量可以达到很高的测量频率,完美匹配自动化的需求。操作人员不需要经过的培训也能得到可靠的测量结果;
◆NLS12传感器,具有简化的独立系统,可以在工业或交通不便的环境中进行测量;
◆与三角反射法不同,几乎无反射角要求,且无反射平面阻挡之影响,因此可用于小孔深度测量;
◆可以计算面积,厚度或体积;
◆可进行平整度的测量,高度或位置的测量;
共焦传感器测量原理 NLS11/12共焦传感器测量系统基于光谱共焦的原理,由光学头和控制器组成,之间通过一根光缆连接。共焦传感器进行了小型化的封装,便于集成到现有的系统中。 共焦传感器应用领域 应用于表面难以测量的物体(技术性及困难表面),是一种非接触式轮廓测量的通用的测量解决方案。理想情况下,共焦传感器适合于敏感的,软的或液体的表面。适用于微机械工程,电气工程,光学行业,塑料和造纸行业,半导体和PCB产业的检测,工具行业等。
ZTMS08测厚仪配有各种结果数字实时显示方式,以及智能监控和声光报警,方便作业人员的监控和生产工作。测量结果可以转化成图像显示出来,方便工人观看。 ZTMS08测厚仪不仅测量精确,数据处理和显示方式多元化。还可以把测量数据自动保存,可以给薄膜生产企业进行生产统计分析保存宝贵的生产原始数据,对产品问题直接追踪到历史的生产线上,大大提高企业的生产管理效率,是企业生产主管的得力助手。 沥青厚度测量系统参数 厚度:1-5mm 振动幅度:5mm 精度:5um 采样频率:9.4K 硬件配置: 1.两套ZTM08测厚仪,测量两个点。 2.声光报警器两色显示(含继电器),输入5V电平信号会报警。 3.LED显示屏,实时显示厚度测量值。 4.工控机一套,含主机箱和显示器。 5.ZSC-PCI-8传感器通讯卡,用于获取传感器返回数据。 6.ZSS-PCI-8传感器同步卡用于给传感器发同步脉冲信号和触发声光报警器。 7.隔离模块,用于防止电路中电磁干扰。 8.24V直流电源,给传感器,声光报警器和隔离模块供电。 软件功能: 1.如果传感器出现硬件...