供应便捷式管线定位仪TT1200靖江中诺厂家直销
| 价 格： | 1.00 | |
| 型号/规格： | TT1200 | |
| 品牌/商标： | 靖江中诺 |
便捷式管线定位仪的详细介绍
TT1200便携式管线定位仪
管线定位仪主要功能：
1. 测定地下金属管线的路由
2. 测定地下金属管线的埋深
3. 多金属管线的情况下目标金属管线的识别
便捷式管线定位仪主要特点：
1. 采用先进的信号处理技术、的集成电路元器件以达到优异的测试性能。
2. 测量信号的多种发送方式:
（1）注入法：用于有注入点的金属管线。
（2）钳夹法（选配）：用于被测金属管线有一段外露，便于钳夹夹钳的管线。
3. 测量频率为31KHz频率。
4. 提高测试效率的不同的定位模式和功能：
（1）峰值模式：通过测量信号的极大值来确定路由的位置。
（2）路由定向：直观、迅速地指示路由的方向。
（3）电流强度测量（CM）:测量管线上加载的信号电流大小，区别出目标管线 。
（4）听诊器（选配）：通过听诊头从众多管线中识别出信号所加载的管线。
5. 辅助功能：
（1）接收增益自动调节：自动调节接收机的增益以使接收机处于优化状态，免去了手动调节的繁琐 。
（2）声响功能：接收机通过音调变化直观地反映测量的信号大小。
（3）电池电量检测：电池电量的实时检测，当电量低到保护值时会电源指示灯闪烁。
便捷式管线定位仪技术指标：
发射机
信号频率：
注入法 ：31KHz
钳夹（选配）方式 ：31KHz
输出电压： 0-400Vp-p 根据绝缘情况变化
输出波形： 正弦波
电 源： 2#干电池8节
输出功率： 1W
接收机
功 耗 ：<1.0W
电 源 ： 5#干电池8节
测试线路埋深 ：4.5米 （正常情况下）
测试线路埋深误差： ±0.05h±5cm (h为管线的埋深)
测试线路路由误差： ≤5cm
注入法测试金属管线路由及埋深有效长度 ：10Km（正常情况下）
钳夹法测试金属线路路由及埋深有效长度 ：6Km（正常情况下）
注:正常情况下指所测试的金属管线在上述测量范围内没有绝缘故障及其它干扰。
环境要求
工作温度： -20℃~+50℃
存储温度 ：-40℃-70℃
相对湿度 ：10%~90%
大气压力 ：86~106KPa
环境噪声： ≤60dB
物理特性
名 称 重量（Kg） 外形尺寸（mm）
发射机 2 247*140*103
接收机 3 645*262*130
整机（毛重） 7 790×405×240
- 所属城市：江苏 泰州
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- 联系人： 张丽
- 电话：0523-84955058
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供应奥林巴斯超声波测厚仪26MG-XT总代理
信息内容：联系人：张丽手机：13952629874电话：0523-84955058传真：0523-84633358 26系列美国泛美超声波测厚仪 包括26MG超声波测厚仪,26MG-XT超声波测厚仪和26XTDL超声波测厚仪,操作简单,是测量腐蚀金属理想的便携式测厚仪。超声波测厚仪使用双晶探头,从被测物体的一面就可以测量被腐蚀,有凹 痕,被氧化或呈粒状等其它较难测量物体的厚度。有多种探头可选。可对厚度在0.5mm--500mm之间,温度在-20C°--+500C°之间的物体进行测量。 26MG基本型超声波测厚仪完美的将操作简单,价格低廉和功能齐全三大优点融为一体. 并具有快速最小捕捉模式和冻结模式.两节AA5# 电池可工作250小时. 26MG-XT 超声波测厚仪包括26MG所有功能, 附加增益闸门,自动灵敏度优化和高低报警功能. 26XTDL 超声波测厚仪将26MG-XT的特征和数据采集功能相结合,配有RS-232数据输出接口,可与计算机或打印机连接。内置数据存储器用来记录厚度读数,能保存约8000个测量厚度值。 26MG-XT美国泛美超声波测厚仪技术参数： 技术规格 26MG超声波测厚仪 26MG-XT超声波测厚仪 显 示 屏 液晶显示 45X20mm 液晶显示 45X20mm 测量范围 0.5---500mm 0.5---...
供应奥林巴斯超声波测厚仪37DL PLUS总代理
信息内容：37DL PLUS 腐蚀厚度仪/美国泛美超声波测厚仪特点： Panametrics-NDT? 37DL PLUS具有许多创新特性，即便在外表有涂层或镀层的情况下，亦可轻易完成金属实际厚度的测厚。新增透过涂层技术，利用一次背反射回波，测量和显示金属基底厚 度和涂层厚度。新增氧化皮/沉积物测量功能（选择项），测量和显示锅炉管道内壁钢基底厚度和氧化皮沉积物的厚度，从而有助于管道寿命的预测。精确的高温厚度测量可以利用新增温度补 偿功能，随温度变化调节材料的声速。新增平均值/最小值模式，保存几个相继测量值的平均值或最小值。 37DL PLUS 腐蚀厚度仪/美国泛美超声波测厚仪技术参数： 双晶片测量方式：从激励脉冲到个回波之间的精确延时 透过涂层测量：利用一次背反射回波（使用D7906-SM 和 D7908 探头），测量涂层厚度和真实金属厚度。 透过漆层回波对回波：消除漆层或涂层，在两个连续背反射回波之间的时间间隔。 单晶片测量模式： 模式1：测量激励脉冲和个背反射回波之间的时间间隔。 模式2：测量在激励脉冲之后的个界面回波与个背反射回波之间的时间间隔。使用延迟线或水浸式探头。 模式3：测量在激励脉冲之后，位于个界面回波之后的相邻背反射回波之间的时间...
