用于LCD行业,测试TFT面板表面在不同条件下波纹和亮度切失,以及其它各种FPD检测应用。用于LCD行业,测试TFT面板表面在不同条件下波纹和亮度切失,以及其它各种FPD检测应用。用于LCD行业,测试TFT面板表面在不同条件下波纹和亮度切失,以及其它各种FPD检测应用。用于LCD行业,测试TFT面板表面在不同条件下波纹和亮度切失,以及其它各种FPD检测应用。用于LCD行业,测试TFT面板表面在不同条件下波纹和亮度切失,以及其它各种FPD检测应用。
规格:日本 PKC贴片形探头。用途:测量COG.TAB等热压头工作时的温度。规格:日本 PKC贴片形探头。用途:测量COG.TAB等热压头工作时的温度。规格:日本 PKC贴片形探头。用途:测量COG.TAB等热压头工作时的温度。规格:日本 PKC贴片形探头。用途:测量COG.TAB等热压头工作时的温度。规格:日本 PKC贴片形探头。用途:测量COG.TAB等热压头工作时的温度。规格:日本 PKC贴片形探头。用途:测量COG.TAB等热压头工作时的温度。规格:日本 PKC贴片形探头。用途:测量COG.TAB等热压头工作时的温度。