供应宇时UM-1超声波测厚仪
| 价 格： | 面议 | |
| 加工定制： | 否 | |
| 类型： | 超声波测厚仪 | |
| 品牌/商标： | 宇时 | |
| 型号/规格： | UM-1 | |
| 测量范围： | 0.8～300mm（mm） | |
| 显示方式： | 128×64点阵（42×57mm）, | |
| 电源电压： | 3（V） | |
| 外形尺寸： | 149×73×32（mm） | |
| 单位和显示分辨率： | 毫米-0.1,英寸-0.01 | |
| 示值误差： | ±0.1mm (10mm以下) | |
| 重复性： | ±0.1mm |
产品介绍：
UM-1超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-1超声波测厚仪具有最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值；数据存储；报警功能
UM-1技术数据
工作原理:脉冲～回波方式
测量范围:0.8～300mm;取决于所用探头、所测材料、表面状况
单位和显示分辨率:毫米-0.1,英寸-0.01
探头零点校准:一点校准（用于常规的厚度测量）,两点校准（测量曲面壁厚或特殊应用时，可显著提高测量精度）
V路径修正:自动V声程修正，补偿双晶探头的非线性度
示值误差:±0.1mm (10mm以下),±0.5% H 0.01 (10mm以上)
注：H为被测物厚度
重复性:±0.1mm
显示屏:128×64点阵液晶屏（42×57毫米）, 具有EL背光，可调节对比度, 厚度值数字高度可达13.75毫米
测量刷新频率:常规测量时4Hz，最小值扫查时25Hz
材料声速范围:1000～9999m/s，0.0394～0.3937in/us
数据存储:划分5个数组，可存储500个厚度值
工作语言:中文、英文
电源:两节1.5VAA电池,当电池电量不足时，有低电压提示
操作时间:两节5号电池，使用时间可达200小时
自动关机:5分钟无操作后自动关机
工作温度:-10℃～ 50℃，有特殊要求可达-20℃
尺寸：149mm×73mm×32mm (H×W×D)
重量：含电池200g
标准配置
UM系列测厚仪
标配探头
仪器箱
两节碱性电池
耦合剂
操作手册
合格证
装箱单
附件
橡胶外套；众多可供选择的探头；校准用阶梯试块；耦合剂及高温耦合剂
西安德图仪器有限公司
公司信息未核实
- 所属城市：陕西 西安
- [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
- 联系人： 侯卫朋
- 电话：029-82111137
- 传真：029-82111137
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