供应BGA老化测试座可根据IC定制各种三温测试socket

价格：		面议
接口类型：		AC/DC
型号/规格：		BGA609
品牌/商标：		国产
种类：		插头/插座
加工定制：		是
形状：		矩形
支持卡数：		多合一
应用范围：		集成电路IC

详细介绍
企业详情

BGA609老化座，适用于集成电路的老化功能验证。

产品特点及性能参数：

※ 采用手动翻盖式结构，操作方便；
※ 上盖的IC压板采用弹压式结构，能自动调节下压力，保证IC的压力均匀；
※ 探针特殊头形的突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠，而不会损坏锡球；
※ 高精度的定位槽或导向孔，保证IC定位，生产效率高；
※ 探针可更换，维修方便，成本低。
※ 绝缘材料： FR4、PC
※ 最小测试间距可达pitch=0.4mm；
※ 交货快：最快一天内交货。

产品服务：

※ 一个月免费保修（人为损坏除外）。
※ 保修期外，免费维修，如果需换件，只收材料成本费。
※ 可以免费提供相关的技术支持。

采用日本进口双头三温探针，支持从低温到常温再到高温一个循环的测试，探针可更换

深圳苏州凯智通微电子技术有限公司

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