价 格: | 面议 | |
是否提供加工定制: | 否 | |
品牌/商标: | 日本新宇宙 | |
型号/规格: | XPS-7 | |
测量范围: | 根据规格 | |
测量对象: | 半导体材料气体 | |
测量精度: | FS±10%以内 | |
尺寸: | W62×H150×D128mm(突出部分除外)(mm) | |
重量: | 1.3(kg) | |
电源: | 5号碱性干电池4节或AC专用变压器 |
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dzsc/19/2732/19273225.jpg德国菲尼克斯PHYNIX - Surfix easy I F内置探头铁基易用型测厚仪 膜厚仪 膜厚计 .大测头座,易放稳 .同屏显示测值,平均值等统计参数 .可测铁基体上的涂层 .量程3000(铁基3500)μm .精度±3μm或3%读数,分辨率1μm .粉末喷涂,油漆,汽车,建材等行业的理想仪器 技术参数:测量范围 钢铁基材:0-3500µm / 0-140mils有色金属基材:0-3000µm / 0-120mils 允许误差 2µm±2% 读数/0.12mils±2%读数 分辨率 1µm或小于读数的0.2% 显示 背景照明,四位读数显示,英文操作指南 基体最小面积 10mmX10mm 基体最小曲率 凸面:5mm凹面:50mm 校准 厂家校准,零校准 操作温度 0-60℃/32°-140°F 仪器尺寸 107mmx50mmx25mm 重量 90g/3.2z 电源 2节AAA碱性电池 保护等级 IP52(防尘,防滴水) 深圳欧野电子有限公司电话:0755-28446009-28447789网址:www.ov17.com