日本KETT LH-200J 涂层测厚仪 膜厚计
| 价 格： | 面议 | |
| 是否提供加工定制： | 否 | |
| 品牌/商标： | 日本KETT | |
| 型号/规格： | LH-200J | |
| 测量范围： | 0～800um | |
| 测定对象： | 测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、相交、油漆、塑料等） | |
| 测量精度： | 2% | |
| 分辨率： | 0.1 | |
| 电源： | 5#碱性电池×4 | |
| 尺寸： | 80(W)×80(D)×30(H)（mm） | |
| 重量： | 1.1（kg） |
dzsc/19/2724/19272454.jpg 日本KETT LH-200J 涂层测厚仪 膜厚计 特点： 本仪器采用了涡流测厚方法，可无损的测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、相交、油漆、塑料等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。 LH-200J测定方法高频涡流式测定对象非磁性金属上绝缘层测定范围0～800um或0～32.0mils测定精度<50um±1um >50um±2%分辨率<100um 0.1um >100um 1um界限设定可设定上/下限数值测试单位公/英制互换显示方式LCD数显操作面板密封防水按键附属品铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书电源DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个体积80(W)×80(D)×30(H)重量1100g |
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Surfix PF 德国菲尼克斯PHYNIX 涂层测厚仪
信息内容：德国菲尼克斯PHYNIX - Surfix PF内置探头铁基统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计 1.德国PHYNIX公司制造 2.碳化钨超耐磨测头,特快反应速度 3.同屏显示数据统计值 4.可存储前80个测值 5.可测铁基体上涂镀层 6.量程1500μm,精度±1μm 1%读数 7.分辨率0.1μm.背景光 8.有红外可接PC及打印机技术参数: 测量范围 0-1500µm,0 - 60mils 误差 ±(1µm 1%读数) 分辨率 0.1µm或小于读数的2% 显示背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示 基体最小面积 5mmX5mm 基体最小曲率 凸面:1.5mm 凹面:50mm 基体最小厚度 F型：0.5mm ,N型：50µm 校准 厂家校准，零校准，校准箔校准 数据统计（仅限统计型） 读数个数（最多9999个），平均值，标准偏差，值和最小值 数据存储（仅限统计型） 最多80个测量数值,可单独调出 数据值（仅限统计型） 上下限可调,声音报警 数据接口 红外通讯,IrDA标准 环境温度/表面温度 0-50℃/60℃（可选配150℃） 电源 2节1.5...
日本KETT LE-200J 涂层测厚仪 膜厚计
信息内容：dzsc/19/2729/19272977.jpg日本KETT LE-200J 涂层测厚仪 膜厚计特点： 本仪器采用了磁性测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。LE-200J测定方法电磁式测定对象磁性金属上非磁性涂镀层测定范围0～1500um或0～60.0mils测定精度<15um±0.3um >15um±2%分辨率<100um 0.1um >100um 1um界限设定可设定上/下限数值测试单位公/英制互换显示方式LCD数显操作面板密封防水按键附属品铁基体/校正标准片/电池/皮套/说明书电源DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个体积80(W)×80(D)×30(H)重量1100g
