测试老化插座，DIP系列封装双列IC电路测试老化，引脚6脚~28脚
| 价 格： | 0.35 | |
| 加工定制： | 是 | |
| 品牌/商标： | 飞堑 | |
| 型号/规格： | LJZ（S）（T）-XX | |
| 应用范围： | 双列集成电路测试老化，高低温老化设备仪器 | |
| 种类： | 线对线 | |
| 接口类型： | 其他 | |
| 形状： | 矩形 | |
| 制作工艺： | 冲折电镀注塑装配 | |
| 特性： | 接触可靠，耐高低温，寿命长 | |
| 接触件材质： | 锡磷青铜镀金 | |
| 绝缘体材质： | BPT | |
| 芯数： | 6脚~28脚 | |
| 针数： | 6-28 |
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一:产品型号说明:
LJZ----主称代号
S--- 双侧的中间有散热结构
T---插座身为见效陶瓷，不标注即为高温BPT
XX---为插座引脚数总和
二：使用条件：
老化温度：-55度- 125度
环境温度：-20度- 40度
相对湿度：40±2度，93±3%
振 动：10-50Hz
冲 击：5G
三：产品主要性能：
绝缘电阻：500MΩ
接触电阻：0.03Ω
产品寿命：≥2000次
"扬州飞堑电子设备有限公司
公司信息未核实
- 所属城市：江苏 扬州
- [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
- 联系人： 方俊国
- 电话：
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