X荧光光谱仪
| 价 格： | 面议 |
规格:EXF6302 型号:XRF
1、技术指标
分析范围： 0.3%----99.99%
测量时间： 30--------200s
测量精度： ± 0.2%
分析元素：Au 、Ag 、pt 、Pd、Rh 、 Ru 、Cu 、Zn 、Ni 、Cd
重量：
尺寸：500*400*
X射线源：X射线光管
探测器：正比计数器
高压器：4-50Kv
分析：多通道
温度：15---
电压：交流220V/50Hz
操作系统: Windows2000/Me/XP
镀层测量：
镀层厚度范围<30um
可测量元素种类：Au 、Ag 、Pt 、Pd 、Rh 、Ru、 Cu 、Zn 、Ni 、Cd
测量层数：5层
测量精度：0.03um
2、标准配置
单样品腔
放大电路
高低压电源
X光管
计数器
西凡科技实业有限公司
公司信息未核实
- 所属城市：广东
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- 联系人： 史
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信息内容：规格:EXF6302 型号:XRF 1、技术指标 分析范围： 0.3%----99.99%测量时间： 30--------200s测量精度： ± 0.2%分析元素：Au 、Ag 、pt 、Pd、Rh 、 Ru 、Cu 、Zn 、Ni 、Cd重量：20公斤 尺寸：500*400*350mmX射线源：X射线光管 探测器：正比计数器 高压器：4-50Kv分析：多通道 温度：15----30℃电压：交流220V/50Hz操作系统: Windows2000/Me/XP镀层测量： 镀层厚度范围<30um可测量元素种类：Au 、Ag 、Pt 、Pd 、Rh 、Ru、 Cu 、Zn 、Ni 、Cd测量层数：5层 测量精度：0.03um 2、标准配置 单样品腔放大电路 高低压电源 X光管 计数器
