FPC/FFC扁平连接器连接器，抽屉式，FPC座子，FPC插座，1.0FPC
| 价 格： | 0.50 | |
| 加工定制： | 是 | |
| 品牌： | 国产 | |
| 型号： | 1.0D | |
| 应用范围： | PCB | |
| 种类： | FFC/FPC | |
| 接口类型： | D-SUB(VGA) | |
| 支持卡数： | 单卡 | |
| 读卡类型： | CF | |
| 形状： | 条形 | |
| 制作工艺： | 组装 | |
| 特性： | 阻火/阻燃 | |
| 工作频率： | 低频 | |
| 接触件材质： | 磷青铜 | |
| 绝缘体材质： | LCP | |
| 芯数： | 16 | |
| 针数： | 16 | |
| 线长： | n（mm） |
FFC/FPC（扁平电缆连接器）
型号：1.0D
规格：1.0D-nPLB(立贴正针）
1.0D-nPLBF(立贴反针）
1.0D-nPBX（卧贴下接）
1.0D-nPBS（卧贴上接）
1.0D-nPB（一字型立贴）
生产P位：4P-40P
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一、此规格适用于“0.5-1.0-1.25间距柔性扁平电缆连接器”系列
This specification is 0.5-1.0-1.25 mm pitch FPC/FFC connector series.
二、允许电压/电流: 50V 0.5A
Rated Voltage /Rated Voltage : 50V 0.5A
三、构造（Struction）
3.1形状,尺寸根据图纸确定（ Form, dimension according to the drawing）.
3.2各部分无生锈、裂痕、电镀不良现象（Without rust and oxydation、crack、defective electric plating in all parts）
四、温度范围（Temperature range）:-25°C~85°C;
五、材质（ Material）
5.1塑胶:NYLON Plastic （part: PA46）
5.2端子:磷青铜（ Terminal:Phosphor Bronve）;
5.3焊片：磷青铜（Soledr tab :Phosphor Bronve）
5.4锁条：PPS（Slider:Phosphor Bronve）
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FFC接插件，FPC接插件，FFC/FPC柔性扁平电缆连接器,0.8间距
信息内容：0.8间距H=2.0抽屉式FPC/FFC连接器 品牌：DF型号：0.8A（半包）规格：0.8A-nPBS卧式上接 0.8A-nPBX卧式下接dzsc/19/0154/19015432.jpg 生产P位： 4P-40P交货周期：5-7天包装方式：管装/盘装（真空包装）所用材质：接触件-磷青铜 焊片-磷青铜 镀锡 塑胶本体-PA46/LCP NO测试项目Test Item试验方法及条件(Test Condition & Method)规格Standard 6.1接触阻抗contact impedanceFFC与导体之间的接触电阻(Measured the resistance of mated FFC ) 30毫欧以下(below 30mΩ)6.2绝缘阻抗insulation impedance在端子之间和端子与壳之间加DC500V条件下持续1分钟测量among terminals or between terminal and shell, under condition of DC500V ,last 1min to test1000兆欧以上（ above100MΩ）6.3耐电压disruptive test在端子之间和端子与壳之间加AC 500V(50H或60H)条件下持续1分钟测量among terminals or between terminals and shell, under condition of AC 500V(50H or 60H),last 1min to test无击穿现象出现（ without disruptive ）
FPC接插件，FFC连接器，FFC/FPC柔性扁平电缆连接器,带锁条连接器
信息内容：FFC/FPC（扁平电缆连接器） 型号：0.5D规格：0.5D-nPLB（立贴正针） 0.5D-nPLBF（立贴反针）生产P位：10、14、20、24dzsc/19/0478/19047895.jpgdzsc/19/0478/19047895.jpg NO测试项目Test Item试验方法及条件(Test Condition & Method)规格Standard 6.1接触阻抗contact impedanceFFC与导体之间的接触电阻(Measured the resistance of mated FFC ) 30毫欧以下(below 30mΩ)6.2绝缘阻抗insulation impedance在端子之间和端子与壳之间加DC500V条件下持续1分钟测量among terminals or between terminal and shell, under condition of DC500V ,last 1min to test1000兆欧以上（ above100MΩ）6.3耐电压disruptive test在端子之间和端子与壳之间加AC 500V(50H或60H)条件下持续1分钟测量among terminals or between terminals and shell, under condition of AC 500V(50H or 60H),last 1min to test无击穿现象出现（ without disruptive ）"
