供应ZM10X激光测厚仪 测量圆管的直径和炭片的厚度
| 价 格： | 1.00 | |
| 型号/规格： | ZM10X | |
| 品牌/商标： | 英国真尚有 |
激光测厚仪ZM100激光幕帘直径测量仪有三种型号，分别为ZM100-25、ZM100-25D、ZM100-5。单个测径仪独立可测59mm的物体直径，通过多传感器协同工作可测直径高达500mm，测径仪在检测物体外径方面提供了非常方便的测量方式。
产品名称：
模压碳管
作用：
应用于合成人造金刚石，继之应用于复合片的合成
从以上可总结出，对于通孔的管状物，可使用激光测厚仪ZM10X系列测径传感器对被测物进行外径和内径的测量。
产品名称：
碳发热片
作用：
碳发热片：分为超薄型发热片（厚度0.3-0.5mm）和厚型发热片(1mm以上)。根据合成的需要电阻可以调整以满足不同的合成条件需要，作用在于调整合成棒的温差与合成时间
非接触式检测薄片宽度，对薄片不造成损害，又能测量
测径仪应用领域：
可用于物体尺寸的非接触测量与控制，如零件高度、边缘、直径、线径、宽度、间隙、内径、外径等。有效降低了生产后的单件检验成本，并能有效节省原物料的损耗，降低人员需求。
测径仪主要特点：
高精度：线性度5um；
量程范围广：可测500mm外径的物体（可根据实际情况定制更大外径型号）；
支持多个传感器同步采集（确保工业在线高精度差动测厚）；
可以对操作系统实施不同的参数设置，改变测量方式；
在PC上十分直观的显示出测量值，方便对测量过程实施监控；
采用半导体激光器发射的激光（波长660nm）作为探测信号，抗干扰能力强；
系统带有额外的四条输出信号，带负载能力强；
- 所属城市：广东 深圳
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供应ZLDS102激光测厚仪 测量圆柱体厚度
信息内容：客户要求：测量圆柱厚度 测量方案：利用两个激光位移传感器探头对射，同时还有两个辅助量块，通过激光测厚仪激光扫描可知X厚度，同时辅助量块厚度Y也知道，通过算法可知圆柱的厚度。 由于成本问题给客户 给客户推荐激光测厚仪ZLDS10X系列激光位移传感器中的激光测厚仪ZLDS102激光位移传感器探头 按照客户的要求给客户推荐以下型号：ZLDS102-250-65-2K-RS232-I-IN-AL-CC-3 量程是250mm,起始距离：65mm,采样频率：2K，数字输出为RS232，模拟输出为电流，线长是3m. 激光测厚仪ZLDS102：0.02%高分辨率,0.1%高线性度,低成本。 提供了在计算机上运行附带的传感器软件。该软件提供简单的数据读取、显示以及传感器参数设置功能。 提供了一个传感器开发库(目前仅支持Windows)，以DLL形式提供，封装底层串口通讯协议细节，提供简单易用的编程接口，便于开发人员快速进行应用软件的开发。 应用领域：广泛用于火车轮轮缘轮廓测量，公路车辙、平整度测量。也可用于非接触测量位移、三维尺寸、厚度、物体形变、振动、分拣及玻璃表面测量等。 工作原理：基本原理是光学三角法：半导体激光器①被镜片②聚焦到被测物体⑥。反射...
供应ZTMS088激光测厚仪 测量薄膜片材厚度
信息内容：薄膜生产的厚度测量问题： 对于生产薄膜类的企业来说，薄膜的厚度是个重要的参数。无论是从产品质量还是生产成本来说，在薄膜生产中对厚度控制都是一个重要的技术指标。薄膜生产厚度不均匀或者厚度值不达标，直接影响薄膜产品质量；而在生产薄膜的过程中，厚度太大，会增加企业生产的成本，厚度太薄，又达不到客户需求。因此厚度的测量是各种薄膜类生产企业必须的监控环节。 接触式测量与非接触测量： 传统的测量薄膜方法是接触式测量，由于薄膜在生产过程中未成形固化，接触式测量会直接影响薄膜的形状、厚度，不利于保证产品的质量；接触探头对在线薄膜接触的压力过大，测量结果会变小，从而误导对薄膜厚度判断和生产控制，造成材料浪费，产品质量也没能够保证。许多薄膜类生产企业都因为在线测量薄膜厚度的问题，每年造成数十万元的材料浪费。 ZTMS08测厚仪，采用激光非接触式测量方式，不对在线薄膜产品构成影响，而且测量精度准确，给生产机械和工人提供准确的厚度数据，达到对薄膜生产的质量、成本有效控制的目的。在沥青防水薄膜材料、电池板极片、塑料薄膜等企业得到广泛应用。 激光测厚仪测量原理： 利用两个ZLDS100激光传感...
