产品特点及性能参数:
各种品牌的DDR3(英飞凌、SANSUNG、奇梦达)显存都可以测试
※采用手动翻盖式结构,操作方便;
※上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
※探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损坏锡球;
※高精度的定位槽或导向孔,保证IC定位,生产效率高;
※采用浮板结构,对于IC有球无球都能测试
※探针材料:铍铜(标准),
※探针可更换,维修方便,成本低。
※采用手动翻盖式结构,操作方便;
※绝缘材料:Torlon、PEI
※交货快:最快一天内交货。
产品服务:
※半年免费保修(人为损坏除外)。
※保修期外,免费维修,如果需换件,只收材料成本费。
※可以免费提供相关的技术支持。
BGA152测试座可测试BGA132,BGA88,BGA137的芯片,只需要更换限位框,使用寿命高达10万次,保修是三个月,测试座特点:1. 座头采用手动翻盖结构,操作灵敏。2. 座头顶盖的芯片压块采用人性化结构,下压力度平稳,保证IC的压力均匀,不偏移。3. 探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层,接触性能稳定, 保护锡球外形。4. 理性化的定位槽、导向孔可以确定IC定位精确。5. 特殊IC载板结构,保护探针不受外力损坏。6. 探针:进口探针,铍铜镀硬金、铑。寿命8万次以上7.维修成本低:方便更换探针,成本低效率高。8.高强度耐高温绝缘材料:330度。9.成熟加工精度范围:跳距pitch=0.38mm。10.交货周期:最快三天内交货。现货BGA63/BGA107/BGA100/BGA137/BGA136/BGA149/BGA152/BGA199/BGA225测试座转成DIP48,同时可根据客户的测试板制作BGA测试座,LGA测试座
BGA1508测试座(test socket)是测试ALTERA的一款FBGA芯片,它的参数1508个PIN,间距为1.0的,一般用在集成电路上面,我司这款测试座可用于验证测试烧录,在客户的产品板上起到转接的作用,通过进口双头探针一对一的转接出来,保证接触稳定可靠,受压是通过双扣旋钮的座头,产品的特点:采用手动翻盖式结构和自动下压式结构,操作方便;翻盖的上盖的IC压板采用弹压式结构,能自动调节下压力,保证IC的压力均匀; 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠而不会损坏锡球; 高精度的定位槽或导向孔,保证IC定位精确,生产效率高;采用浮板结构,对于BGA IC有球、无球、残球都能测试 探针材料:铍铜(标准), 探针可更换,维修方便,成本低。 额定电流: 3A/PIN 绝缘电阻: 1000MΩ ( 500V DC ) 绝缘体抗电压: 700V AC/1分钟接触电阻 : 50mΩ Max 感应系数: 1.5nH (约) 在50 MHz。工作温度: -30°C 到155°C 镀金厚度:30 – 50 μ" 硬金(Hard gold)频率可达10.9G。 探针寿命:30-50万次 绝缘材料: FR4、Torlon、PEI 最小可做到中心跳距pitch=0.4mm;交货快:最快一天内交货。同时我死可定制各种BGA/PBGA/FBGAQFN/QFP等封装的芯片...