供应ZLDS114激光测厚度传感器 硅片厚度检测
| 价 格： | 1.00 | |
| 型号/规格： | ZLDS114 | |
| 品牌/商标： | 英国真尚有 |
高温型硅片厚度检测传感器ZLDS114原理和传统硅片厚度检测传感器相似采用相位比较原理进行测量。硅片厚度检测传感器发射不同频率的可见激光束，接收从被测物返回的散射激光，将接收到的激光信号与参考信号进行比较，但用微处理器计算出相应相位偏移所对应的物体间距离。但高温型硅片厚度检测传感器是针对高温物体特点，测量时发射激光束频率多样，上避开高温光谱干扰。
ZLDS114硅片厚度检测传感器主要特点：
高温检测：可测500℃~2200℃高温物体，进行厚度、宽度、长度、高度、直径、轮廓的精密测量，是冶金行业必备的精密量仪；
抗干扰：可直接检测发光液面，不受强光、散光干扰，有自动滤光功能；
高温测厚系统：2个传感器成对安装，能自动主从识别，构成测量仪，进行在线厚度、宽度等实时测量；
实时可编程功能：数值计算、数字传输速度、模拟设置、滤波器等；
ZLDS114硅片厚度检测传感器测量原理：
利用两个激光传感器的对射方式进行厚度测量，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能
激光位移传感器采用回波分析原理来测量距离以达到一定程度的精度。传感器内部是由处理器单元、回波处理单元、激光发射器、激光接收器等部分组成。激光位移传感器通过激光发射器每秒发射一百万个激光脉冲到检测物并返回至接收器，处理器计算激光脉冲遇到检测物并返回至接收器所需的时间，以此计算出距离值，该输出值是将上千次的测量结果进行的平均输出。激光回波分析法适合于长距离检测，但测量精度相对于激光三角测量法要低。真尚有拥有的激光位移传感器，最远检测距离可达3000m
激光位移传感器可非接触测量被测物体的位置、位移等变化，主要应用于检测物的位移、厚度、振动、距离、直径等几何量的测量。
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供应SMT9700电涡流传感器 半导体和光器件的研磨
信息内容：电涡流传感器应用领域 原子显微镜垂直轴定位、光学平台位置测量、半导体和光器件的研磨、半导体模板对齐系统、蒸镀系统、电子显微镜垂直轴定位、磁悬浮轴控制、部件研磨加工的精确定位、镜片控制、物质收缩测试测量、机械结构变形探测与测试。 SMT是一款专门为客户定制的OEM电涡流传感器产品，可测非导磁体和铁磁材料，有1、2或3通道可配电涡流探头。电涡流传感器材料、线性、分辨率、带宽各种性能可自行优化，埃米级分辨率，符合CE和RoHS标准，尺寸小巧，可配13种电涡流探头。 电涡流传感器主要特点： 供电电压：15～30V，<50mA(有容错保护、短路保护) 工作温度：0～70ºC(补偿范围15～55ºC) 有1、2或3通道可配电涡流探头 埃米级分辨率 尺寸小巧 可配13种电涡流探头 符合CE和RoHS标准 输出负载电流<20mA(有短路和过载保护) 激光位移传感器采用回波分析原理来测量距离以达到一定程度的精度。传感器内部是由处理器单元、回波处理单元、激光发射器、激光接收器等部分组成。激光位移传感器通过激光发射器每秒发射一百万个激光脉...
供应KAMAN电涡流位移传感器 传感器探头系列
信息内容：电涡流传感器探头特点： 量程为0.05～63.5mm； 可配各种模拟信号处理器； 探头壳体由不锈钢和工程塑料PEEK制成； 用双探头和差动传感器组成系统可降低温度，辐射和其他环境影响； 传感器和电缆使用温度可达+204℃； 电涡流传感器探头应用领域： 精密机械、半导体制造、航空航天、汽车。 激光位移传感器采用回波分析原理来测量距离以达到一定程度的精度。传感器内部是由处理器单元、回波处理单元、激光发射器、激光接收器等部分组成。激光位移传感器通过激光发射器每秒发射一百万个激光脉冲到检测物并返回至接收器，处理器计算激光脉冲遇到检测物并返回至接收器所需的时间，以此计算出距离值，该输出值是将上千次的测量结果进行的平均输出。激光回波分析法适合于长距离检测，但测量精度相对于激光三角测量法要低。真尚有拥有的激光位移传感器，最远检测距离可达3000m
