供应ZTMSS激光测厚仪 防水卷材厚度测量
| 价 格： | 1.00 | |
| 型号/规格： | ZTMS08 | |
| 品牌/商标： | 英国真尚有 |
ZTMS08采用了德国进口激光位移传感器，将激光束作为接触测量时的机械探针,利用电荷耦合器件实现光电转换。真尚有激光测厚仪ZTMS08是将激光光源、光电检测和计算机工业控制技术相结合的光、机、电一体化的高新技术产品,可广泛用于生产线上对各种材料的厚度、宽度、轮廓的实时测量,具有非接触测量、不损伤物体表面、无环境污染、抗干扰能力强、精度高、数据采集、处理功能全等特点,是我国工业生产线产品质量控制的重要设备。
适用范围：扫描式激光测厚仪广泛应用于各种透明及非透明板材、片材、泡沫板、中空板材、防水卷材、薄膜等产品在运行过程中的厚度测量。
功 能：采用精密上下对射构连续对被测物进行宽度方向上的左右扫描，工业用计算机采集数据，具有数据处理、扫描测量、任意点定点测量、图形曲线显示、偏差报警、数据存储等功能。
测量方式：
1、扫描式（如图--为扫描式外形）
2、定点式
主要特点
激光测厚仪测厚量程量身定制,精度0.5um；
激光测厚仪高速在线测量，测量值/秒；
激光测厚仪多点测量，一台工控机可连接点在线测厚仪；
激光测厚仪可连接生产线自动控制系统，实现闭环控制；
激光测厚仪可连接公司 内部管理网络，如企业资源计划ERP；
激光测厚仪优质激光位移探头ZLDS100，适用各种材料测量；
激光测厚仪可按要求显示图形曲线及设定偏差报警；
激光测厚仪系统成熟稳定，软件算法具有高可靠性及高可用性；
激光测厚仪机械定位牢固准确，无损伤非接触测量；
激光测厚仪高效率，节省人力物力，提高生产品质；
新药设计及相关生命科学的快速发展带来了高速高精度定位系统的需求。您可以在我们的网站上找到很多此类实例。
解决方案
真尚有压电纳米平台的高速和非磁特点非常适合用于MRI和OCT应用中，也可以帮助实现细胞快速排列。药物筛选技术也需要压电系统进行纳升级的微配药，并依赖真尚有压电纳米平台的速度、精度和超长寿命。压电光束偏摆系统可用于激光束的超快和超精度角度控制。
目前DNA研究中所必需的扫描光学显微镜如果没有压电定位系统也根本无法工作。真尚有多轴系统也能帮助外科大夫通过精密且高自由度的定位来改进手术技术。
- 所属城市：广东 深圳
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- 联系人： 江山
- 电话：0755-26528100/26528011/26528012
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供应ZTMS08激光测厚仪 高精度激光测厚 铜板测厚
信息内容：ZTMS08高精度激光测厚 真尚有测厚仪ZTMS08是将激光光源、光电检测和计算机工业控制技术相结合的光、机、电一体化的高新技术产品,可广泛用于生产线上对各种材料的厚度、宽度、轮廓的实时测量,具有非接触测量、不损伤物体表面、无环境污染、抗干扰能力强、精度高、数据采集、处理功能全等特点,是我国工业生产线产品质量控制的重要设备。ZTMS08激光测厚采用了德国进口激光位移传感器，将激光束作为接触测量时的机械探针,利用电荷耦合器件实现光电转换。 激光测厚仪应用领域： 包括各种冷热轧带钢、钢板、铝板、铝箔、铜板、铜箔、转炉内衬、木材、食品、精密器件，各类橡胶片、橡胶膜、橡胶轮胎、塑料板材、布等透明及非透明柔性板材的厚度在线测量监控。 激光测厚仪主要特点： 多点测量，一台工控机可连接点在线测厚仪； 可连接生产线自动控制系统，实现闭环控制； 测厚量程量身定制,精度0.5um； 高速在线测量，测量值/秒； 可连接公司 内部管理网络，如企业资源计划ERP； 系统成熟稳定，软件算法具有高可靠性及高可用性； 机械定位牢固准确，无损伤非接触测量； 高效率，节省人...
供应ZLDS10x激光测厚仪 激光位移传感器 非接触测量物体位移
信息内容：各型号特点： ZLDS100：0.01%高分辨率，0.1%高线性度，9.4KHz高响应，可订制各种尺寸，适应恶劣环境。 ZLDS101：0.03%高分辨率，0.1%高线性度,2M大量程，可进行远距离测量。 ZLDS102：0.02%高分辨率,0.1%高线性度,低成本。 可订制各种尺寸的硅片厚度检测传感器，适应恶劣环境，提供了在计算机上运行附带的传感器软件。该软件提供简单的数据读取、显示以及传感器参数设置功能。 硅片厚度检测传感器提供了一个传感器开发库(目前仅支持Windows)，以DLL形式提供，封装底层串口通讯协议细节，提供简单易用的编程接口，便于开发人员快速进行应用软件的开发。 硅片厚度检测传感器产品除标准系列外，还可根据用户的特殊需要定制。如果您不了解产品性能是否能满足您的需要，您可申请样品试用，我们帮您解决试验过程中的问题，直到您满意为止。我公司也可帮您用这种传感器组成测量系统，如零件尺寸、轮廓、厚度等测量系统的软硬件集成。 硅片厚度检测传感器应用领域： 广泛用于火车轮轮缘轮廓测量，公路车辙、平整度测量。也可用于非接触测量位移、三维尺寸、厚度、物体形变、振动、分拣及玻璃表面测量等。 硅片厚度检测传感器主...
