供应ZLDS200/HS激光二维传感器 高精度物体轮廓测量
| 价 格： | 1.00 | |
| 型号/规格： | ZLDS200 | |
| 品牌/商标： | 英国真尚有 |
ZLDS200系列高精度二维扫描传感器是数字化集成一体化结构，具有Z轴0.1%高精度、每秒扫描6510个轮廓数据高响应、IP67高防护等级和可同步等高性能。除标准系列产品外，激光二维传感器还可根据用户的特殊需要定制。传感器提供了DLL库，封装底层网口通讯协议，便于开发人员快速进行应用软件的开发。本公司也可以帮您用激光二维传感器组成测量系统，如零件轮廓尺寸等测量系统的软硬件集成。如果以上条件满足您的要求，那么再加上它的高性价比，这款产品将是您不错的选择。
激光二维传感器主要特点：
Z轴量程最小3mm，300mm；
Z轴3um精度；
X轴量程最小5mm，240mm；
最快每秒扫描6510个轮廓数据；
无需控制器，直接网口输出(也可选模拟输出)；
测量不受色彩、表面材质或离散光线所影响；
保护等级IP67；
通过以太网接口RS232/RS485与PC,SPS或NC通讯，完成智能超精密直径轮廓测量。
XLS13XY双轴激光扫描直径轮廓传感器直径检测
量程：0.03～10mm
分辨率：0.01µm
线性：±0.5µm
重复性：±0.02µm
ILS13XY双轴激光扫描直径轮廓传感器直径检测
量程：0.03～10mm
分辨率：0.01µm
线性：±0.5µm
重复性：±0.1µm
XLS40单轴激光扫描直径传感器直径检测
量程：0.06～38mm
分辨率：0.01µm
线性：±0.5µm
重复性：±0.7µm
XLS80单轴激光扫描直径传感器直径检测
量程：0.75～78mm
分辨率：0.01µm
线性：±1µm
重复性：±0.2µm
Xline-xy双轴激光扫描直径LED数显仪直径检测
双轴XLS13XY和XLS35XY传感器配六位LED数显表，由遥控器控制。有报警设定和输出，模拟输出±10V。
- 所属城市：广东 深圳
- [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
- 联系人： 江山
- 电话：0755-26528100/26528011/26528012
- 传真：0755-26528210
- 手机：13312971170
- QQ ：
供应ZLDS210 ZSY激光二维传感器 激光扫描传感器 轮廓测量
信息内容：激光二维传感器是一种运用激光测量一个平面内的各点来进行检测与还原的传感器。 ZLDS210传感器是一款非接触式精确测量的激光二维传感器。它是通过在平面上的扫描激光从xº到50º的偏移角度来完成计算的。激光二维传感器根据漫反射聚焦成像原理它几乎可以测任何材料或液体的表面。它具有扫描仪结构坚固，测量精确度高等特点，适用于二维测量与轮廓测量。 激光二维传感器应用领域： 本产品是专门为二维或轮廓测量而设计的，可以用于任何类型的工业应用。如：钢铁、铁轨等相关测量，也可以用Y坐标的测量结果进行宽度或高度测量。 激光二维传感器还有一个配套的DLL库，它可以为窗口程序提供频率为2K或5KHz的数字信号。 激光二维传感器主要特点： 二维非接触式精确测量； 适应各种被测体表面，几乎可以测量所有材料或液体表面； 集成度高，ZLDS210测量系统集成了激光发生器，CCD-摄像机和数字信号处理器； 配套软件支持，有一个DLL和测试程序，这些都支持在PC机中进行操作； 模块程度高，4种不同量程的扫描仪可供选择，便于您的选型； 可以测量高温被测体和高亮度被测体； 可根据客户需求进行...
供应SMT9700电涡流位移传感器 半导体和光器件的研磨
信息内容：SMT是一款专门为客户定制的OEM电涡流位移传感器产品，可测非导磁体和铁磁材料，有1、2或3通道可配电涡流探头。电涡流位移传感器材料、线性、分辨率、带宽各种性能可自行优化，埃米级分辨率，符合CE和RoHS标准，尺寸小巧，可配13种电涡流探头。 客户需填写的7个问题: 1.被测物材质、大小和形状 2.校准量程 3.分辨率 4.线性度 5.热灵敏度 6.重复性 7.传感器的电缆长度 电涡流位移传感器应用领域 光学平台位置测量、半导体和光器件的研磨、半导体模板对齐系统、蒸镀系统、电子显微镜垂直轴定位、原子显微镜垂直轴定位、磁悬浮轴控制、部件研磨加工的精确定位、镜片控制、物质收缩测试测量、机械结构变形探测与测试。 压电纳米定位台 天文、自适应光学 激光腔调谐/光束稳定 高速光束偏摆与光束稳定 英国真尚有NM机械机构系列纳米定位台特点 纳米平台模块之间的组合十分灵活，每种可以适用于不同型号的高分辨率显微镜。每个产品都有非常低的旋转误差，有非常好的重复性和简单的图像校准。 NM-XYZ-100A-Z15A有Z轴的平台，可以...
