ZLDS10X测量形变的工作原理
水平移动被测物或者ZLDS10X激光传感器,传感器发射激光束打到物体表面发生漫反射,反射光被传感器接收端接收并在CCD上成像,通过计算光点位置可获得物体表面的高度数据。
测量数据通过串口数字输出至PC,并记录存储数据,数字信号最终由真尚有测量演示软件处理为数据曲线,以图形的形式在显示屏上显示出物体表面的扫描结果,这样就可以直观的看到物体的形变状况。
应用前景
物体在受到外力作用或者环境因素(温度、湿度等)改变时,其外形会发生变化,最常见的就是热胀冷缩现象了。然而在各行各业的工作生产中,这些物体的变形很多时候并不是人们希望看到的,因此会有测量物体形变的需求,要了解其形变程度,从而判断是否符合要求、有无不利影响。
特别是在制造业中,为保证产品的工艺品质,必须掌握各种零部件、半成品、成品的形变状况,尤其需要能适用于各种工业环境下的高精度形变检测仪器。因此在工业产品的形变测量这方面,非接触式的精密激光传感器有着广阔的应用空间。
对此,真尚有科技提供有完善的解决方案。真尚有旗下主打产品——ZLDS10X可定制激光位移传感器,就是这样一款可用于物体形变测量的高性价比精密传感器。
ZLDS10X系列激光位移传感器具有数字化集成一体化结构,0.01高分辨率,0.1%高线性度,9.4Hz高响应、IP67高防护等级和可同步等高性能。工作温度范围宽,特别适用于工业环境下的高精密测量应用。
ZLDS10X更多可定制的形变测量应用
多点测量
多个ZLDS10X传感器组成的测量系统还可以实现对物体表面的多点测量。当被测量物在移动过程中,多对传感器同时对多处位置进行采集测量,将物体表面高度数据实时反馈到PC端,通过真尚有演示软件直观显示物体的形变状况。
个性化测量设备
真尚有科技提供ZLDS10X系列各型号激光位移传感器,并且根据客户实地的具体需求,设计自动化测量工具和系统设备,为客户不同的形变测量需求提供个性化的解决方案。
ZLDS10X激光传感器可安装于滑动导轨、固定支架、滑轮车等等各种根据需要设计的装备上,来完成对被测量物形变的测量。
ZLDS10X激光位移传感器产品信息
ZLDS10X物体形变测量系统的优点:
快速、、直观、人性化、高效率。
ZLDS100激光位移传感器的技术特点:
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ZLDS100测量500mm的管道内径 内径测量现状分析 随着机械设备向着复杂化、精密化方向发展,对于这些设备所需要工件的加工质量的检测要求也不断提高,测量范围为几毫米到几百毫米,测量精度为10-5~10-6量级。对内径尺寸的测量,目前国内测量的方法多以接触式测量为主,比如采用螺旋测微器、千分尺等接触式测量仪器,但是接触式测量由于测量工具磨损、人为因素、测量环境等原因造成测量误差较大、不能满足快速精确的内径尺寸检测要求。基于激光三角法测量原理的非接触测量方法可以实现在一定空隙下完成高精度测量。 国内传统管道内径非接触测量大多采用旋转测量的方式,具体是以一精密旋转控制结构带动激光位移传感器在被测管道内部旋转测量,在同一测量截面实现多方向测量,然后经过后继算法的处理,拟合出管道内径的数值。 真尚有提供方案 ZLDS100型传感器侧内径具有以下优点:非接触;单次测量可实现多个径向方向的测量、测量精度高、测量速度快、满足在线测量的要求,具有定制型号专门应用在管道内径测量上。以前老办法是用智能小车带着点激光传感器往前进,激光传感器在走的过程中转动,定点测量内径,如图1。如果管道比...
ZM100薄膜测厚仪有三种型号,分别为ZM100-25、ZM100-25D、ZM100-5。单个测厚仪独立可测59mm的物体直径,通过多传感器协同工作可测直径高达500mm,测径传感器在检测物体外径方面提供了非常方便的测量方式。 测径工作原理 测径传感器ZM100由两部分构成:发射器1 和接收器2。激光发光二极管3的光通过光学系统4形成了光幕。被测物体5的阴影图像通过望远镜系统6最终形成在线性CCD阵列7上。信号处理器9计算出它的大小。 应用前景 当今微电子薄膜,光学薄膜,抗氧化薄膜,巨磁电阻薄膜,高温超导薄膜等在工业生产和人类生活中的不断应用,在工业生产的薄膜,其厚度是一个非常重要的参数,直接关系到该薄膜材料能否正常工作。如大规模集成电路的生产工艺中的各种薄膜,由于电路集成程度的不断提高,薄膜厚度的任何微小变化,对集成电路的性能都会产生直接的影响。除此之外,薄膜材料的力学性能,透光性能,磁性能,热导率,表面结构等都与厚度有着密切的联系。 应用领域 可用于物体尺寸的非接触测量与控制,如零件高度、边缘、直径、线径、宽度、间隙、内径、外径等。有效降低了生产后的单件检验成本,并能有效节省原物...