供应镀层膜厚测厚仪
| 价 格： | 面议 | |
| 型号/规格： | XDL210 XDL230 XDLM | |
| 品牌/商标： | 菲希尔 |
菲希尔镀层膜厚测厚仪所有的设备遵循ASTM B568， DIN 50 987和 ISO 3497等国家和国际标准。 HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过60年的经验。无论是涂层或电镀层的测量，都可以在菲希尔产品中找到适合的仪器。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的处理和使用了的软件和硬件技术，FISCHER公司的X射线仪器具有其独特的特点。菲希尔镀层测厚仪采用的WinFTM?（版本3（V.3）或版本6（V.6））软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准并保证一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统，同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析（使用WinFTM? V.6软件）
菲希尔镀层膜厚测厚仪典型的应用范围如下：
单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
最多24种镀层（使用WinFTM? V.6软件）。
分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素。
分析电镀溶液中的金属离子浓度。
欲知详细内容，请您来电！金霖电子 岳先生 手机：13794487447 18318816439 TEL：0755-29371651 FAX：29371653 公司网址：www.kinglinhk.com
地址：宝安沙井镇新桥综合大楼502
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供应X荧光薄膜镀层测厚仪
信息内容：X荧光薄膜镀层测厚仪的X射线发生系统为X射线聚焦光学系统（聚焦导管）与X射线源相结合，并且可以照射出实际照射直径为0.1mmφ以下高强度的X射线束。为此，可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而无法得到理想精度的导线架、插接头、柔性线路板等微小部件及薄膜进行测量。X荧光测厚仪同时搭载高计数率、高分辨率的检测器，在测量镀层厚度的同时，也能对RoHS、ELV、中国版RoHS等法规所管制的有害物质进行分析测量。 X荧光镀层测厚仪面对复杂的电镀层，如单一镀层，二元合金镀层，三元合金镀层，双镀层，双镀层其中一层为合金镀层这些复杂的电镀层厚度检测，菲希尔测厚仪能够准确快速的检测分析出结果，多项专利技术，在线路板镀金、五金镀镍镀铬镀锌镀银等领域中，占有90%的市场份额，是客户镀层检测的选择。 欲知详细内容，请您来电！金霖电子 岳先生 手机：13794487447 18318816439 TEL：0755-29371651 FAX：29371653 公司网址：www.kinglinhk.com 地址：宝安沙井镇新桥综合大楼502
供应铜箔测厚仪 面铜测厚仪
信息内容：PMP10孔铜测厚仪是菲希尔品牌的产品,是一款根据相位感度涡流方法快速，简便和现场的测量镀层厚度的手提式仪器,通过选择合适的测量探头，甚至可以达到非接触式的测量。 PMP10孔铜测厚仪主要特点: 测量印刷线路板上覆铜板，即使在阻焊剂下的厚度。 测量印刷线路板上通孔内的铜壁厚度。 测量锌，铜，铝等镀层在钢或铁上的厚度。尤其适合于在粗糙的表面测量。 测量锌镀层在较小的钢部件上。由于它较小的测量面积以及相位感度涡流方法带来的优点，使得对于不同几何尺寸的部件不需要特别的校准。 测量钢或铁部件上的化学镍层。可以根据镍层的厚度范围选择两种不同的测量频率。 德国菲希尔PHASCOPEPHASCOPE PMP10是一款根据相位感度涡流方法快速，简便和现场的测量镀层厚度的手提式仪器。通过选择合适的测量探头，甚至可以达到非接触式的测量。取决于不同的测量探头，仪器可以工作在60 kHz，240 kHz或1.25 MHz的频率上。 PHASCOPE PMP10用于印刷线路板上的校准需要一块铜基准板以及校准板。数据能够在选配的打印机上输出。 金属镀层在铁，非铁金属或非导电部件上的厚度测量 为了达到这些应用需要以下的测量探头： 配合测量探头ESD20Zn测量锌...
