各型号特点:
ZLDS100:0.01%高分辨率,0.1%高线性度,9.4KHz高响应,可订制各种尺寸,适应恶劣环境。
ZLDS101:0.03%高分辨率,0.1%高线性度,2M大量程,可进行远距离测量。
ZLDS102:0.02%高分辨率,0.1%高线性度,低成本。
可订制各种尺寸的硅片厚度检测传感器,适应恶劣环境,提供了在计算机上运行附带的传感器软件。该软件提供简单的数据读取、显示以及传感器参数设置功能。
硅片厚度检测传感器提供了一个传感器开发库(目前仅支持Windows),以DLL形式提供,封装底层串口通讯协议细节,提供简单易用的编程接口,便于开发人员快速进行应用软件的开发。
硅片厚度检测传感器产品除标准系列外,还可根据用户的特殊需要定制。如果您不了解产品性能是否能满足您的需要,您可申请样品试用,我们帮您解决试验过程中的问题,直到您满意为止。我公司也可帮您用这种传感器组成测量系统,如零件尺寸、轮廓、厚度等测量系统的软硬件集成。
硅片厚度检测传感器应用领域:
广泛用于火车轮轮缘轮廓测量,公路车辙、平整度测量。也可用于非接触测量位移、三维尺寸、厚度、物体形变、振动、分拣及玻璃表面测量等。
硅片厚度检测传感器主要特点:
ZLDS100R-4-39传感器可用于镜面和玻璃的表面测量;
量程最小2mm,1250mm(其他量程可订制);
量程起始距离最小10mm,260mm(其他距离可订制);
频率响应:2K、5K、8K、9.4K;
分辨率0.01%,线性度0.1%;
支持多个传感器同步采集(确保工业在线高精度差动测厚);
支持特殊量程(如远距离起始700mm小量程300mm等);
特殊应用(如路面平整度,高温被测体,管道内径,石油钻杆内外螺纹测量等均可定制);
针对串口,提供了运行应用的DLL开发库,方便用户开发应用软件;
非接触位移精密测量;
硅片厚度检测传感器测量原理:
利用两个激光传感器的对射方式进行厚度测量,将传感器固定在稳定的支架上,确保两个传感器的激光能再同一点上。
硅片厚度检测传感器闭环控制:
生产设备生产出来运行,经过我们的检测系统,检测产品是否符合要求,按照客户的标准检测该产品是否符合要求,并把信息反馈给生产系统。如果反馈信息是当前产品不符合要求,则生产系统及时作出调整以适应生产线的变化。这样可以随时掌握生产的进程,并进行干预,实现在线检测和生产一体化。
位移传感器DIT5200拥有两个高精度电涡流探头,接入电桥平衡电路。是一款具有高分辨率、高灵敏度的电涡流位移传感器,被广泛使用于被测材料为铝、铜等导电材料;有单、双通道配置。 电涡流位移传感器应用领域: 应用于精密构件平衡、集成电路制造平台定位、磁悬浮轴承定位等高精度的测量领域。 电涡流位移传感器主要特点: 线性度:±0.1~1%; 量程:±0.25mm /±1.915mm; 频响: 0~22KHz; 埃米级分辨率; 高灵敏度,394mV/μm;
ZLTA05带冷却壳的激光玻璃平整度传感器,这是一种位移传感器——激光三角全反射位移传感器,位移传感器适用镜面、光滑表面,透明材料的位移测量、平整度测量。位移传感器拥有一个性能良好的测量精度,精度为±0.05%,分辨率为0.01mm,重复性为0.01mm,采样频率为350Hz。位移传感器极大的方便了用户对玻璃厚度的检测。 技术规格: 技术参数 ZLTA05 量程mm 6 测量间距mm 245±3 精度mm 0.05 激光波长nm 650 模拟输出V ±5或0~10 供电V 24(15~30) 功率mW <3 激光等级 ...