供应上海精科UV760CRT双光束紫外可见分光光度计
| 价 格： | 51000.00 | |
| 型号/规格： | UV760CRT | |
| 品牌/商标： | 精科 |
主要特点：
● 采用全息闪耀光栅，双光束C-T式光路结构，高分辨率，低杂散光，测光精度高，稳定性能好。
● 微机控制，自动记录，打印机可在一张记录纸上打印出光谱图、测试数据及操作参数。
● 光源自动转换（可在294nm～364nm间任意设定）
● 功能极强的光谱处理能力。
软件特点：
● 信息存贮容量大，保存方便。
● 软件提供四个图谱通道临时贮存图谱，可进行覆盖和重叠方式的透过率、吸光度、吸收度对数和能量图谱扫描，透过率和吸光度的图谱可轻松地相互转换，对图谱可进行图谱和图谱、图谱和系数的四则运算、导数运算。
● 图谱的峰谷检测、缩放轻松自如。
● 时间扫描可进行动力学研究。
● 定量分析提供了浓度线性回归法、方法中提供了待定系数法和系数输入法可进行曲线拟合及异常点剔除、2λ和3λ的测定，3λ提供了自动的波长设定并提供10组波长数据供用户选择使用。
● 软件提供了定波长和多波长测试，并可对测试数据进行注释，对同一样品多用户的测试提供了方便，多波长测试则可进行多达20个点波长的测试。
● 可轻松地将贮存图谱的参数设置为仪器当前测试条件。
● 打印机可进行参数与图谱打印、参数与图谱及数据打印、参数与数据打印和工作曲线的打印。
技术指标：
● 测光方式：双光束C-T式光路结构，全息闪耀光栅分光器，光电倍增管检测。
● 波长范围：190nm～900nm
● 分辩率：优于0.15nm
● 光谱带宽：0.08nm～5nm间隔0.01nm连续可调
● 波长允许误差：±0.3nm（内装自动波长校正装置）
● 波长重复性：0.2nm
● 杂散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm处）
● 透射比允许误差：±0.3%τ（以NBS930D测定）
● 透射比重复性：0.2%（T）
● 扫描速度：快、中、慢
● 稳定性：≤±0.004A/30min
● 噪声：±0.3%（100%处） ±0.1%（0%处）
- 所属城市：上海 上海市
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- 联系人： 邵国军
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上海精科UV759紫外可见分光光度计
信息内容：要特点： ● 采用先进的光、机、电、微计算机模快化设计,具有超群的性能和性价比。 ● 采用比例双光束光路结构,并配置高性能“闪耀全息光栅”的低杂散光高分辨率的单色器, 具有出众的光学精度以及测量准确性、重现性和稳定性。 ● 采用强大的微处理功能、全自动的系统操作,测试控制及数据处理,具有独特的自动调整“0”调整“100”八样品池联动以及光源反射镜微步切换技术。 ● 具有全波段扫描、分波段扫描（759S型主机具备）、动力学时间扫描、以及GOTOλ、线性回归、浓度直读、峰谷检测等各种功能。 ● 采用热敏绘图仪，可进行数据打印、光谱扫描（759S主机具备）、定波长时间扫描、线性回归等曲线的绘制。 ● 具有USB接口，可直接与PC机交互，强化了仪器的检测数据、扫描图谱等处理功能，实现了测试文档的海量储存，也为用户二次开发提供了便利。 ● 可靠的断电保护措施，可记忆测得数据、扫描图谱、回归方程以及仪器修正值等，并实现了开机快速初始化进入测试状态。 ● 仪器操作简便，用户只需对应液晶显示屏上的菜单进行选项和确认，即能达到所需的功能。 ● 仪器采用高能量的长寿命法兰盘定位氘灯。当仪器氘灯必须更换时，只需卸装两枚法兰盘定位螺丝，即可...
上海精科UV765紫外可见分光光度计
信息内容：主要特点： ● 比例双光束，保证极好的稳定性。 ● 超低的杂散光，优异的波长精确度。 ● 高清晰度大屏幕LCD显示，流畅的人机对话操作。 ● 长寿命石英涂膜光学部件。 ● 常规测量功能：光度测量、定量测定、光谱扫描、时间扫描。 ● 显示和储存各种数据和图谱，支持专用打印机。 ● 自动校正功能，确保每次测量数据准确。 ● 自动寻找灯源位置，独立灯室，灯源更换简单方便。 ● 大样品室，自动8联样品架。 ● 自诊断功能，随时检查仪器状态和性能。 技术指标： ● 波长范围：190nm～1100nm ● 波长允许误差：±0.5nm ● 波长重复性：≤0.2nm ● 光谱带宽：2nm ● 杂散光：≤0.05%（τ）（在220nm处，以NaI测定，在360nm处,以NaNO2测定） ● 透射比测量范围：0.0%（T）～200.0% (T） ● 吸光度测量范围：-0.301（A）～3.00(A) ● 透射比允许误差：±0.3%（τ） ● 漂移：≤0.001A/h ● 透射比重复性：0.15%（T） ● 基线平直度：±0.002A ● 噪声：100%噪声≤0.15%（T） 0%噪声≤0.10%(T) ● 扫描速度；快、中、慢
