激光传感器 激光位移传感器 O2DS位移传感器
| 价 格： | 面议 | |
| 型号/规格： | O2DS | |
| 品牌/商标： | 英国真尚有 |
O2DS是一款非接触式测量的激光扫描传感器。它是通过在平面上的扫描激光从xº到50º的偏移角度来完成计算的。
激光扫描传感器根据漫反射聚焦成像原理它几乎可以测任何材料甚至液体的表面。它具有扫描仪结构坚固，测量度高等特点，适用于二维测量与轮廓测量。
激光扫描传感器还有一个配套的DLL库，它可以为窗口程序提供频率为2K或5KHz的数字信号，支持用户进行二次开发。
激光扫描传感器应用领域：
本产品是专门为二维或轮廓测量而设计的，可以用于任何类型的工业应用。如：钢铁、铁轨等相关测量，也可以用Y坐标的测量结果进行宽度或高度测量，能测高温被测体的特性使其能τ迷诮鹗粢绷缎幸怠?/SPAN>
激光扫描传感器主要特点：
二维非接触式测量；
适应各种被测体表面，几乎可以测量所有材料或液体表面；
集成度高，O2DS测量系统集成了激光发生器，CCD-摄像机和数字信号处理器；
配套软件支持，有一个DLL和测试程序，这些都支持在PC机中进行操作；
模块程度高，4种不同量程的扫描仪可供选择，便于您的选型；
可以测量高温被测体和高亮度被测体；
可根据客户需求进行定制；
详情请访问：
http://www.51sensors.com/prod_detail_949.html
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英国真尚有集团
深圳市真尚有科技有限公司
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测厚仪ZM105激光厚度测量 位移传感器 激光传感器
信息内容：在线薄膜测厚仪 应用背景 当今微电子薄膜，光学薄膜，抗氧化薄膜，巨磁电阻薄膜，高温超导薄膜等在工业生产和人类生活中的不断应用，在工业生产的薄膜，其厚度是一个非常重要的参数，直接关系到该薄膜材料能否正常工作。如大规模集成电路的生产工艺中的各种薄膜，由于电路集成程度的不断提高，薄膜厚度的任何微小变化，对集成电路的性能都会产生直接的影响。除此之外，薄膜材料的力学性能，透光性能，磁性能，热导率，表面结构等都与厚度有着密切的联系。 解决方案 采用ZM105激光测径仪检测：将薄膜套在标准轴上，通过测标准轴和套薄膜的标准轴的直径，间接检测薄膜的厚度。精度±2μm，如下图1： 图1：ZM105 图2：检测方法 应用领域 可用于物体尺寸的非接触测量与控制，如零件高度、边缘、直径、线径、宽度、间隙、内径、外径等。有效降低了生产后的单件检验成本，并能有效节省原物料的损耗，降低人员需求。 ZM105的主要特点 ◆ 高精度：线性度±2um； ◆ ...
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