德国 2锡膏测厚仪REAL Z3000A
锡膏测厚仪(REAL Z 3000A) 特色: l 自带全封闭的精密光栅尺作为测量基准,即时校准测量结果,全闭环反馈,精度高。测量不依赖易磨损的丝杆马达等传动系统,精度保持性好,故障率低。 l 使用相对测量法,消除PCB变形的误差,可补偿绿油和铜箔厚度造成的误差。 l 量程大,可直接测量双面板,也可测除锡膏以外的如V-Cut槽深度,元件、BGA锡球高度等。 l 花岗石测量平台,耐磨,不易变形,不产生静电,可测量PCB面积大。特色:
l 自带全封闭的精密光栅尺作为测量基准,即时校准测量结果,全闭环反馈,精度高。测量不依赖易磨损的丝杆马达等传动系统,精度保持性好,故障率低。
l 使用相对测量法,消除PCB变形的误差,可补偿绿油和铜箔厚度造成的误差。
l 量程大,可直接测量双面板,也可测除锡膏以外的如V-Cut槽深度,元件、BGA锡球高度等。
l 花岗石测量平台,耐磨,不易变形,不产生静电,可测量PCB面积大。
l 一体化的坚固底座,刚性好。可调水平的减震脚。
l 大范围无级变倍光学镜头,放大倍率高,适合从大焊盘到0201,01005,0.2mm细间距IC,BGA,CSP等,灵活性强。
l 当把测量激光束对到被测表面,光学镜头自动对焦到被测表面。变倍后焦距自动保持不变。
l 带自动待机保护的激光发生器,寿命延迟数倍。激光亮度调节方便。
l 彩色摄像头,容易识别PCB板上各种特征。可以拍照和录像。可热拔插的USB接口。
l 长寿命LED照明,颜色可切换适合各种颜色的PCB板测量。照明亮度调节方便。
l 同时监测分析数条生产线。具有分组管理和一键切换被测产品功能,每条生产线单独统计,每个产品可以有独立的判断标准和选项设置,自动判断合格与否。
l 实时刷新的统计参数和图表,有平均值、标准差、Cpk、不良率、分布图、走势图、X bar-R控制图等自动计算功能,灵活设置统计时间段,可自动生成及打印完整的报表。
l 可选测量长、宽、角度、比例、边长、面积、覆盖率、体积、重量并可自动判断的功能。
l 原始数据可按Excel或文本格式导出。
l 自动存盘功能,突然断电不丢失数据。使用通用电脑,安装无需改动硬件,替换容易。
l 操作和软件界面简单,测量速度快。
参 数 表
项 目 |
参 数 |
备 注 |
测量原理 |
相对法,光栅尺基准 |
实时校准 |
分辨率 |
0.001 mm |
|
精度 |
≤0.003% |
全量程 |
重复精度 |
≤0.01% |
全量程 |
绿油及铜箔误差补偿 |
支持 |
|
PCB变形误差消除 |
支持 |
|
量程 |
30 mm |
|
光学放大倍率 |
50 - 360X连续无级变倍 |
|
视场 |
10 x 7.5 - 1.2 x 0.8 mm按需调节 |
|
可容纳PCB |
400 x 600 mm |
耐磨不产生静电花岗石平台 |
最小可测量元件 |
0201、01005,0.2mm细间距IC、BGA/CSP |
|
照明光颜色 |
白色、绿色、蓝色和全关闭可切换 |
适应各种颜色PCB |
照明光源寿命 |
≥ 100万小时 |
LED长寿命光源 |
激光器波长及功率 |
650nm,微功率<5mW |
|
激光器寿命 |
比没有待机功能的激光器长5 - 10倍 |
|
视频输出接口 |
USB |
|
视频分辨率 |
640 x 480 |
1280x960高清可选 |
视频总像素 |
*130万像素 |
|
视频类型 |
彩色图像 |
|
多生产线共享 |
支持 |
|
SPC统计功能 |
不良判断,平均值、标准差、Cpk、不良率、分布图、走势图、X bar-R控制图等 |
面积、覆盖率、体积、重量超标判断可选 |
电源与功耗 |
通过USB接口供电,2.5W小功耗 |
|
热拔插 |
支持 |
断电不丢失测量数据 |
重量与外形 |
60kg, W600 x D550 x H650 mm |
|
系 统 需 求
硬件 |
CPU:Intel P4; 2G 内存: 512M 端口:1个或以上COM口,2个或以上USB2.0接口 显卡:主流品牌,兼容Direct9,32M以上显存 |
操作系统 |
Microsoft Windows XP |
特点: l 超值的性能 KICstart热量特性描绘器采用了KIC——全球的热量概图工具——开发的核心技术,并得到KIC全球组织的支持。KICstart将这些创新技术集成为一种低成本系统,对资金短缺的机构来说,它是一种理想的热量特性描绘器。 l 操作简便 KICstart热量特性描绘器具有您所需要的一切,它能快速获取精确的概图,消除了那些会降低工作效率的复杂特性。在具体应用情况下,如果您所需要的仅仅是产品的热量概图,毫无疑问,KICstart就是您的选择。已获专利的KIC设备方案能自动识别每个烘烤加热区的位置,无需进行测量。此设计能针对部件的不同TC位置进行自动修改,对其进行校正,以改进概图查看效果。另外,在搜索更为合适的烘箱配置时,制程工程师可利用手动预测选件进行即时“试错”操作。凭借简便易用、直观形象的软件,新手们可在短期内结束培训。 l 即时制作过程分析一旦完成概图,KICstart将使用制作过程窗口指数Process Window Index (PWI)自动分析您的制作过程。PWI为单一统计数字,它能衡量您的概图对产品热工制作过程窗口的合适程度。PWI为您提供即时客观的结论,分析您的产品概图是否符合规范,以便消除制作过程分析中的主观推测和评判。这将有助于您确保所有...
炉温仪DQ型/炉温追踪仪DQ型/炉温跟踪踪仪DQ型 Oven Tracker 炉温追踪仪 DQ型,含中文版分析软件(含中文操作手册、计算机联线 CI3029或CI1020 )、数据收集器 DQ1860A(取代DP9061A和 DP9064A) 、 DQ0441A(取代 DP4046A) 、及DQ1862(取代DP9161A和DP9069A)、隔热箱TB0045或TB0046或TB500或TB2036、一组测头。 dzsc/19/3438/19343858.jpg dzsc/19/3438/19343858.jpg dzsc/19/3438/19343858.jpg DQ1860A DP9061A/DP9064A(已停产) 数据收集器 DQ1860A USB接口 量 程 -200℃ to 1370℃ 精 确 ±0.5℃ 分 辨 率 0.1℃ 工作温度 0℃ to 85℃(自动关机) 测头类型 ...