供应德国EPK MiniTest 600涂镀层测厚仪
| 价 格： | 面议 | |
| 型号/规格： | 德国EPK 600BF涂镀层测厚仪 | |
| 品牌/商标： | 德国EPK |
德国EPK公司MiniTest 600涂镀层测厚仪的性能：
德国EPK公司（Elektrophysik)一直致力于开发和生产各种用于表面处理行业的精密测量的涂层测厚仪。作为无损涂层厚度测量领域的先驱，EPK公司与各标准化组织和研究院一道，成功地推进了涂层厚度检测在世界范围内的标准化进程。大量的专利技术与成果表明EPK公司是该涂层检测的佼佼者。
德国EPK MiniTest 600涂镀层测厚仪的仪器特点:
1.小巧实用、测量快速
2.探头顶部由非常耐磨的硬质材料制成
3.F型探头用于钢铁上的非磁性涂镀层，如测量油漆厚度、塑料厚度、搪瓷厚度、铬厚度、锌厚度等
4.N型探头用于有色金属(如铜、铝、奥氏体不锈钢)上的所有绝缘层，如阳极氧化膜、油漆、涂料等涂层厚度测试
5.FN型探头为开发的两用探头，可以在磁性和非磁性基体上自动转换测量等涂层厚度测试
德国EPK MiniTest 600涂镀层测厚仪的技术参数:
| 测量范围 1 1 误差 最小曲率半径 最小测量面积 最小基体厚度 显示 测量单位 校准方式 统计数据 接口 电源 仪器尺寸 探头尺寸 |
F型：0～3000um N型：0～2000um FN型：0～3000um（F）；0～2000um（N） ±2um或±2～4% 5mm（凸）；25mm（凹） φ20mm 0.5mm（F）；50um（N） 4位数显，背光可选 um-mils可选 标准、一点、两点 平均值、标准偏差S、读数个数n（最多9,999个）、值max、最小值min（不适合于B型） RS232（不适合于B型） 2节5号电池 64×115×25mm φ15×62mm |
德国EPK MiniTest 600涂镀层测厚仪的标准配置：
主机、 探头、 零板和厚度标准箔、 电池、 操作说明、 仪器包
可选型号
MiniTest 600B涂层测厚仪：(基本型，无统计功能和接口)
MiniTest 600BF涂层测厚仪(600b-F3)
MiniTest 600BN 涂层测厚仪(600BN3)
MiniTest 600BFN涂层测厚仪(600 BFN3)
MiniTest 600(统计型)涂层测厚仪有以下型号：
MiniTest 600F涂层测厚仪(600F3)
MiniTest 600N 涂层测厚仪(600N3)
MiniTest 600FN涂层测厚仪(600FN3)
- 所属城市：上海 上海市
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供应尼克斯QuaNix4200涂层测厚仪
信息内容：尼克斯QuaNix 4200涂层测厚仪的特点：1.只需调零、无需校准 2.Fe/NFe两用探头 3.一体化设计 4.自动开关机 尼克斯QuaNix 4200涂层测厚仪技术参数： 型号 QuaNix 4200 QuaNix 4500 QuaNix 1200 QuaNix 1500 QuaNix 7500 QuaNix keyless 基体 Fe Fe/NFe Fe Fe/NFe Fe、NFe、Fe/NFe Fe/NFe 探头形式 一体 一体、分体 无线分体 显 示 LCD数字显示 测量范围 0－3000μm Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm 0－2000μm 0－5000μm 0－2000μm 0－5000μm 0－5000μm 测量精度 0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3% 显示精度 1μm 0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm 工作温度 －10 － ＋60℃ 温度补偿 0－50℃ 存 储 － 1500M型 7500M型 keylessM型 3900个测量值，999个数据组 数据传输 － RS232打印、电脑 统计功能 － 平均值、值、最小值、标准偏差 超限报警 － 上下限 最小基体 10mm×10mm 最小曲率 凸、凹半径：3mm/25mm 凸半径：5mm，凹半径：25mm 最薄基体 Fe：0.2mm，NFe：0.05mm 电 源 5号电池2节...
供应MINITEST 720/730/740涂层测厚仪
信息内容：MINITEST 720/730/740涂层测厚仪 dzsc/18/5958/18595885.gif-创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的精确性 -测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用 -FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错 SIDSP技术-全球技术，智能数字化的涂层测厚探头 模拟信号处理时代已成过去，数字信号处理将成为未来的趋势 什么是SIDSP？SIDSP是由ElektrPhysik（简称EPK）研发的，的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。SIDSP即探头内部数字信号处理，这项技术使探头在测量时，同时在探头内部将信号完全处理为数字形式。SIDSP探头完全依据世界技术生产。 SIDSP工作原理？跟传统技术不同，SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号，回传的信号经过32位数字转换和处理，带给您精确的涂层厚度值。此项的数字处理技术，同时应用在现代通讯技术（手机网络）方面，如数字滤波器，基带转换，平均值，随机分析，等等。此项技术能获得与模拟信号处理无可比拟的信号质量和精确度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。SIDSP探头与普通模拟探头相比，具有决定性的优势，为涂层测厚设定了一个新的标准。...
