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供应介电常数及介质损耗测试仪HCJDCS-A型

价 格: 面议
型号/规格:HCJDCS-A型
品牌/商标:华测

介电常数及介质损耗测试仪介绍

  HCJDCS-A介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。
       相关介绍

介电常数又称电容率或相对电容率,是表征电介质或绝缘材料电性能的一个重要数据,常用ε表示。 介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场,原外加电场(真空中)与最终介质中电场比值即为介电常数。其表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力,例如一个电容板中充入介电常数为ε的物质后可使其电容变大ε倍。介电常数愈小绝缘性愈好。如果有高介电常数的材料放在电场中,场的强度会在电介质内有可观的下降。介电常数还用来表示介质的极化程度,宏观的介电常数的大小,反应了微观的极化现象的强弱。气体电介质的极化现象比较弱,各种气体的相对介电常数都接近1,液体、固体的介电常数则各不相同,而且介电常数还与温度、电源频率有关。

些物质介电常数具有复数形式,其实部即为介电常数,虚数部分常称为耗散因数。

通常将耗散因数与介电常数之比称作耗散角正切,其可表示材料与微波的耦合能力,耗散角正切值越大,材料与微波的耦合能力就越强。例如当电磁波穿过电解质时,波的速度被减小,波长也变短了。

介电常数及介质损耗测试仪适用范围

该仪器用于科研单学、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

   

介电常数及介质损耗测定仪仪器技术参数

1 Q值测量范围:5~999

   Q值量程分档:30、100、300、999、自动换档或手动换挡

   误差:25kHz~10MHz   ≤5%±满度值的2%

            10MHz~50MHz  ≤7%±满度值的2%

2 电感测量范围:0.1μH~1H  分七个量程

3 电容测量范围:1PF~460PF

   主电容调节范围:40PF~500 PF

   准确度:150PF以下±1.5PF

           150PF以上±1%

   微调电容调节范围:-3PF~0PF~+3PF

   准确度:±0.2PF

4 频率覆盖范围:25 kHz~50MHz 分七段

   指示误差:2×10-4±2个字

5 电源:220V±22V   50Hz±2.5Hz   25W

6 环境温度:(0~+40)℃

7 相对湿度:RH<80%

8 外形尺寸:380mm×132mm×280mm

9 重量:约7kg

10.电感9只;
11.夹具一套

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信息内容:

HCJDCS-C型 介电常数及介质损耗测试仪 介电常数及介质损耗测试仪介绍 HCJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。 HCJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内的160MHz。采用了多项技术: 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。 计算机自动修正技术和测试回路化 —使测试回路 残余电感减至,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。 介电常数及介质损耗测试仪的创新设计,无疑为高频元器件的阻...

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