德国 2锡膏测厚仪REAL Z3000A
锡膏测厚仪(REAL Z 3000A) 特色: l 自带全封闭的精密光栅尺作为测量基准,即时校准测量结果,全闭环反馈,精度高。测量不依赖易磨损的丝杆马达等传动系统,精度保持性好,故障率低。 l 使用相对测量法,消除PCB变形的误差,可补偿绿油和铜箔厚度造成的误差。 l 量程大,可直接测量双面板,也可测除锡膏以外的如V-Cut槽深度,元件、BGA锡球高度等。 l 花岗石测量平台,耐磨,不易变形,不产生静电,可测量PCB面积大。特色:
l 自带全封闭的精密光栅尺作为测量基准,即时校准测量结果,全闭环反馈,精度高。测量不依赖易磨损的丝杆马达等传动系统,精度保持性好,故障率低。
l 使用相对测量法,消除PCB变形的误差,可补偿绿油和铜箔厚度造成的误差。
l 量程大,可直接测量双面板,也可测除锡膏以外的如V-Cut槽深度,元件、BGA锡球高度等。
l 花岗石测量平台,耐磨,不易变形,不产生静电,可测量PCB面积大。
l 一体化的坚固底座,刚性好。可调水平的减震脚。
l 大范围无级变倍光学镜头,放大倍率高,适合从大焊盘到0201,01005,0.2mm细间距IC,BGA,CSP等,灵活性强。
l 当把测量激光束对到被测表面,光学镜头自动对焦到被测表面。变倍后焦距自动保持不变。
l 带自动待机保护的激光发生器,寿命延迟数倍。激光亮度调节方便。
l 彩色摄像头,容易识别PCB板上各种特征。可以拍照和录像。可热拔插的USB接口。
l 长寿命LED照明,颜色可切换适合各种颜色的PCB板测量。照明亮度调节方便。
l 同时监测分析数条生产线。具有分组管理和一键切换被测产品功能,每条生产线单独统计,每个产品可以有独立的判断标准和选项设置,自动判断合格与否。
l 实时刷新的统计参数和图表,有平均值、标准差、Cpk、不良率、分布图、走势图、X bar-R控制图等自动计算功能,灵活设置统计时间段,可自动生成及打印完整的报表。
l 可选测量长、宽、角度、比例、边长、面积、覆盖率、体积、重量并可自动判断的功能。
l 原始数据可按Excel或文本格式导出。
l 自动存盘功能,突然断电不丢失数据。使用通用电脑,安装无需改动硬件,替换容易。
l 操作和软件界面简单,测量速度快。
参 数 表
项 目 |
参 数 |
备 注 |
测量原理 |
相对法,光栅尺基准 |
实时校准 |
分辨率 |
0.001 mm |
|
精度 |
≤0.003% |
全量程 |
重复精度 |
≤0.01% |
全量程 |
绿油及铜箔误差补偿 |
支持 |
|
PCB变形误差消除 |
支持 |
|
量程 |
30 mm |
|
光学放大倍率 |
50 - 360X连续无级变倍 |
|
视场 |
10 x 7.5 - 1.2 x 0.8 mm按需调节 |
|
可容纳PCB |
400 x 600 mm |
耐磨不产生静电花岗石平台 |
最小可测量元件 |
0201、01005,0.2mm细间距IC、BGA/CSP |
|
照明光颜色 |
白色、绿色、蓝色和全关闭可切换 |
适应各种颜色PCB |
照明光源寿命 |
≥ 100万小时 |
LED长寿命光源 |
激光器波长及功率 |
650nm,微功率<5mW |
|
激光器寿命 |
比没有待机功能的激光器长5 - 10倍 |
|
视频输出接口 |
USB |
|
视频分辨率 |
640 x 480 |
1280x960高清可选 |
视频总像素 |
*130万像素 |
|
视频类型 |
彩色图像 |
|
多生产线共享 |
支持 |
|
SPC统计功能 |
不良判断,平均值、标准差、Cpk、不良率、分布图、走势图、X bar-R控制图等 |
面积、覆盖率、体积、重量超标判断可选 |
电源与功耗 |
通过USB接口供电,2.5W小功耗 |
|
热拔插 |
支持 |
断电不丢失测量数据 |
重量与外形 |
60kg, W600 x D550 x H650 mm |
|
系 统 需 求
硬件 |
CPU:Intel P4; 2G 内存: 512M 端口:1个或以上COM口,2个或以上USB2.0接口 显卡:主流品牌,兼容Direct9,32M以上显存 |
详细说明: 如此容易的曲线测量,任何人都可以做到 通过自动处理复杂的工艺设置,SlimKIC® 2000™ 制作曲线如此容易以至于任何操作员都能快速地完成工艺优化。简单地从已收集了数百个常用锡膏规格的文件中选择出所需资料,软件就会自动地定义出工艺窗口。炉子温区和在产品上的热电偶的规划都会自动使用这创新的专利技术。 SlimKIC 2000 简单化了曲线测量,通过把工艺归纳为一个单一的数据— Process Window Index? (PWI),这样的话你就可真正地知道你的曲线到底有多好了。简单化的用户操作界面指导操作员贯穿于整个曲线测量过程,把潜在的不正确炉子设置降到了并减少了出错率。 曲线归纳成一个单一的数据为了准确的归类曲线,KIC软件使用了工艺制程窗口(PWI)。PWI通过使用了一个简单的数字对这个曲线是否符合工艺窗口进行了数据化和客观化的体现。通过在可选的适合工艺窗口的曲线的比较和排列,PWI可协助你得到化工艺曲线。越小的PWI,就意味着你的工艺效率越高、越稳定。 (细节清参考PWI data sheet) 技术规格 精度: ±1.2C 分辨率: Variable 0.3C to 0.1C 内部操作温度: 0C to 105C 热电偶兼容性: Type K, 9 or 12 channels 温度范围: -150C to 1050C 电...
详细说明: 如此容易的曲线测量,任何人都可以做到 通过自动处理复杂的工艺设置,SlimKIC® 2000™ 制作曲线如此容易以至于任何操作员都能快速地完成工艺优化。简单地从已收集了数百个常用锡膏规格的文件中选择出所需资料,软件就会自动地定义出工艺窗口。炉子温区和在产品上的热电偶的规划都会自动使用这创新的专利技术。 SlimKIC 2000 简单化了曲线测量,通过把工艺归纳为一个单一的数据— Process Window Index? (PWI),这样的话你就可真正地知道你的曲线到底有多好了。简单化的用户操作界面指导操作员贯穿于整个曲线测量过程,把潜在的不正确炉子设置降到了并减少了出错率。 曲线归纳成一个单一的数据为了准确的归类曲线,KIC软件使用了工艺制程窗口(PWI)。PWI通过使用了一个简单的数字对这个曲线是否符合工艺窗口进行了数据化和客观化的体现。通过在可选的适合工艺窗口的曲线的比较和排列,PWI可协助你得到化工艺曲线。越小的PWI,就意味着你的工艺效率越高、越稳定。 (细节清参考PWI data sheet) 技术规格 精度: ±1.2C 分辨率: Variable 0.3C to 0.1C 内部操作温度: 0C to 105C 热电偶兼容性: Type K, 9 or 12 channels 温度范围: -150C to 1050C 电...