产品特点及性能参数:
采用手动翻盖式结构和自动下压式结构,操作方便;
翻盖的上盖的IC压板采用弹压式结构,能自动调节下压力,保证IC的压力均匀;
探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损坏锡球;
高精度的定位槽或导向孔,保证IC定位,生产效率高;
采用浮板结构,对于BGA IC有球、无球、残球都能测试
探针材料:铍铜(标准),
探针可更换,维修方便,成本低。
额定电流: 1 A/PIN
绝缘电阻: 1000MΩ ( 500V DC )
绝缘体抗电压: 700V AC/1分钟
接触电阻 : 30mΩ Max
感应系数: 1.5nH (约) 在50 MHz
工作温度: -30°C 到155°C
镀金厚度:30 – 50 μ" 硬金(Hard gold)
频率可达9G。
探针寿命:30-50万次
绝缘材料: FR4、Torlon、PEI
优势:
1、 采用全镀硬金探针,不易氧化,使用寿命长(机械周期30万次)。
2、 BGA SOCKET锡球自动定位,IC放置准确、方便。
3、 探针自适能力强,对残锡、锡球不均的IC都能精准接触,保证测试。
4、 可根据客户要求定做IC限位板或开IC定位槽,可提高生产效率。
5、 最小可做到跳距0.4mm(球间中心距)。
6、 制作,可以定做各种阵列、各种跳距的SOCKET。
7、 交货快:最快一天交货;国外同类产品交货期6-8周。
服务:
1、 三个月包换,半年免费保修;国际同类产品没有售后服务。
2、 保修期外,免费维修,如果需换件,只收材料成本费。
3、可以免费提供相关的技术支持。
深圳凯智通微电子有限公司研制、开发、生产各类IC的测试治具,向客户提供的集成电路测试、烧录、老化试验等的连接解决方案;研制、开发、生产各类高性能、低成本的IC测试架,测试座,烧录座,老化座等,适用于多种封装:BGA,PGA,QFN,GCSP,CLCC,QFP,TSOP……
已申请中国国家专利,专利号(部分):ZL2004100152975;ZL200420015309.X;ZL200510036732.7;ZL200520063479.X;ZL 20061033402.7;ZL 200710073233.4;ZL 200720118476.0