类型:工业投影仪 品牌:万濠 型号:CPJ-3015AZ数字式测量投影仪 投影方式:正像 分辨率:0.0005mm
CPJ-3015AZ数字式测量投影仪
全正像 不必因上下颠倒,左右区分而烦恼
高精度 (3+L/75)可达国外同等仪器精度
大行程 250×150×100(调焦)
大载荷 50KG荷重精度指标不变
投影筒 升降调焦
寻边器 自动瞄准采样
仪器特点
CPJ-3000AZ数字式正像投影仪,光学系统品质优良,物镜成像清晰,放大倍率准确。在透射光照明下,轮廓测量误差小于0.08%;仪器配有专用微型打印机和脚踏开关,数据输出和采样十分方便。仪器调焦由投影筒升降实现,行程大、稳定性好;工作台不升降,稳定性好,测量范围大,精度高。
仪器规格参数
仪 器 型 号 | CPJ-3015AZ | CPJ-3020AZ | CPJ-3025AZ | ||||
工
作
台 | 金属台面尺寸(mm) | 354 × 228 | 404 × 228 | 450× 280 | |||
玻璃台面尺寸(mm) | 210 × 160 | 260 × 160 | 306× 196 | ||||
X坐标行程(mm) | 150 | 200 | 250 | ||||
Y坐标行程(mm) | 100 | 100 | 150 | ||||
Z坐标行程(mm) | 100 (调焦) | 100 (调焦) | 100 (调焦) | ||||
仪器测量精度(μm) | 3+L/75 | 3+L/75 | 3+L/75 | ||||
X,Y坐标数显分辨率 | 0.0005 | ||||||
投影屏 | 投影屏尺寸(mm) | Ø312,使用范围>Ø300 (刻有米字线) | |||||
投影屏旋转范围 | 0~360° | ||||||
旋转角度数显分辨率 | 1' 或 0.01° | ||||||
物 镜 | 放大倍数 | 10X(标配) 20X(选) 50X (选) 100X (选) | |||||
物方视场(mm) | Ø30 Ø15 Ø6 Ø3 | ||||||
物方工作距(mm) | 77.7 44.3 38.4 25.3 | ||||||
数据处理 系统 | DC-3000 多功能数据处理系统,全中文显示可做多点采样,坐标旋转,点、线、距离、角度测量。 | ||||||
仪器照明 | 透射与反射照明光源均为24V,150W卤素灯 | ||||||
仪器电源 | 110V/ 220V(AC),50/60HZ,总功率400W | ||||||
冷却方式 | 强制风冷 ( 3只轴流风扇 ) | ||||||
外形尺寸 | 长×宽×高(mm) | 780×780×1100 | 780×780×1100 | 810×780×1100 | |||
仪器重量 | 单位:Kg | 160 | 160 | 180 | |||
选 配 件 | 微型打印机、光学寻边器、M2D软件等;详情请查阅投影仪附件说明。 | ||||||
类型:数字式投影仪 品牌:万濠 型号:CPJ-3025CZ 数字式转塔测量投影仪 投影方式:正像 分辨率:0.0005mmCPJ-3025CZ数字式转塔测量投影仪 仪器用途: CPJ-3000CZ系列数字式投影仪,光学系统质量优良,物镜成像清晰,放大倍率准确。在透射光照明下,轮廓测量误差小于0.08%;仪器配有专用微型打印机和脚踏开关,数据输出和采样十分方便。仪器配有物镜旋转盘,可同时配备三个物镜,在不同放大倍率工作时,只须旋转转盘即可,不需要再单独更换物镜,操作更加方便、简单;仪器调焦由投影筒升降实现,行程大,稳定性好;工作台不升降,增强了稳定性,测量范围大,精度高。 仪器规格及参数(单位:mm) 仪 器 类 型CPJ-1510CZCPJ-2010CZCPJ-3025CZ工作台金属台面尺寸(mm)354× 228404× 228450× 280玻璃台面尺寸(mm)210× 160260× 160306× 196X坐标行程(mm)150200250Y坐标行程(mm)100100150Z坐标行程(mm)100 (调焦)100 (调焦)100 (调焦)仪器测量精度(μm)3+L/753+L/753+L/75X,Y坐标数显分辨率0.0005投影屏投影屏尺寸(mm)Ø312,使用范围>Ø300 (刻有米字线)投影屏旋转范围0~360°旋转角度数显分辨率1′或 0.01&d...
类型:白光干涉仪 品牌:万濠 型号:SWIM1510MS白光干涉仪 品种:其他干涉仪 测量范围:150mm×100mm 测量分辨率:0.1nm 最近工作距离:80mm(mm) 用途:结合光学显微镜与白光干涉仪功能的扫描式白光干涉显微镜,结合显微物镜与干涉仪,不需要复杂的光路调整程序,兼顾体积小、纳米分辨率、易学易用等优点,可提供垂直扫描高度 白光干涉仪白光干涉仪的检测应用结合光学显微镜与白光干涉仪功能的扫描式白光干涉显微镜,结合显微物镜与干涉仪,不需要复杂的光路调整程序,兼顾体积小、纳米分辨率、易学易用等优点,可提供垂直扫描高度达400μm之微三维量测,适合各种材料与微组件表面特征和微尺寸检测。应用领域包含:·晶圆(Wafer)·光盘/硬盘(DVD Disk/Haed Disk)·微机电组件(MEMS Components)·平面液晶显示器(LCD)·高密度线路印刷电路板(HDI PCB)·IC封装(IC Package)·以及其他材料分析与组件微表面研究 高速精密的干涉条纹解析软件(ImgScan)·系统硬件搭配ImgScan前处理软件自动解析白光干涉条纹。·垂直高度分辨率可达0.1nm。·高速的分析算法则,让您不在苦候量测结果。·垂直扫...