品牌:邦鑫伟业 型号:XR-806
XR-806 X射线荧光能谱仪是在XR-306的基础上进行优良改造,引进美国产的高性能高分辨率的控测器,利用高信噪比的电子线路单元和优化专用X荧光分析软件。XR-806除在针对RoHS要求管控元素的测试精度提高外,还针对卤族元素(特别是氯元素)的测试而开发。经过多次实验无卤分析所得数据分析,无卤分析的结果十分接近标准值,可广泛应用于各种类型的无卤测试。
产品特征:
1. 可分析分析氯元素和油漆中的铅
2.沿用国际最成熟的X荧光分析技术
3.集成FP法、Alpha系数法、经验系数法
4.软硬结合的防辐射设计 ? 操作简便,一键式操作
5. 智能软件自动参数设定和选择滤光片
6.两分钟左右快速无损分析样品
7.X射线管超温保护 ? 电子冷却,无需液氮和其它耗材产品
详细参数:
1.分析原理: 能量色散X射线荧光分析法
2.分析元素: K ~U任意元素, 铅(Pb)、汞(Hg)、六价铬(Cr6+)、 多溴联苯(PBB)和多溴联苯醚(PBDE)的总溴 、氯(Cl)
3.工作条件: 工作温度:10-30℃ 相对湿度:≤70% 电源:AC 220 V±10%、50/60 Hz
4.技术指标: 高灵敏度探测器(分辨率达145Ev),精密的放大电路, 提高Cd、Pb元素的灵度。
检出下限(Cd/Pd):Cd/Cr/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm,Cl≦5 ppm 样品形状:任意大小,任意不规则形状
样品类型:塑胶/金属/薄膜/粉末/液体
样品腔尺寸:300×300×100mm
X射线管: 靶材/Mo 管电压/5~50 kV 管电流/1~1000 μA 照射直径: 2、5、8mm
探测器: Si(PIN)半导体高灵敏度探测器
滤光片: 六种新型滤光片自动选择
样品定位: 载物平台
样品观察: 200万分辨率彩色CCD摄像机
微区分析: X光聚焦微区分析系统(选配)软件
定量分析: 理论Alpha系数法(NBS-GSC法)
数据处理: PC/AT/内存/256 MB 以上/硬盘/80G以上,Windows XP系统
功率: 300W
重量: 45kg
外形尺寸: 650(W)×450(D)×450(H)mm
5.标准配置和随机标准附件
标准配置: Si(PIN)半导体高灵敏度探测器(145±5eV)
X光光管寿命:>15000小时
高压电源: 0.05%per 8h
高精密摄像机:200万像素 Alpha系数法(NBS-GSC法)定量软件
计算机:惠普P4品牌机,17寸液晶显示器
打印机: 爱普生/惠普 彩色喷墨打印机
测试用样品杯1个,测试用塑料薄膜100张 标 样:欧盟标样EC681一片、银校正标样一片
类型:便携式色差计 型号:BXS-00技术参数 照明/受光光学系统: d/8(扩散照明, 8°方向受光)SCI/SCE同时测定(无机械切换)(根据DIN 5033 第七部份、JIS Z8722的条件C、ISO 7724/1、CIE No. 15、ASTM E1164) 积分球尺寸: ?52mm 受光元件: 双重40个元件硅光电二极管阵列 分光方法: 平面回折光栅 测定波长范围: 360nm至740nm 测定波长间隔: 10nm 半值宽度: 约10nm 反射率测定范围: 0至175%、显示分解能力 ; 0.01% 测定用光源: 脉冲氙弧灯3个(CM2500d为2个脉冲氙弧灯) 测定时间: 约1.5秒(萤光测定时 : 约2秒) 最短可测间隔: SCI/SCE测定时间3秒(萤光测定时 : 4秒) 可测定次数: 10秒间隔、约1000次(使用硷性电池)(测定1次可同时评价SCI/SCE) 测定直径/照明直径: MAV : ?8mm/?11mm SAV : ?3mm/6mm(可切换2种) (CM-2500d只有MAV) 重复性 分光反射率 : 标准偏差0.1%以内(但360至380nm的波长域为标准偏差的0.2%以内) 色彩值 : 标准偏差 E*ab0.04以内白色校正後、将白色校正板以10秒间隔测定30次 仪器误差: E*ab0.2以内(MAV/SCI)以主机为基准、BCRA系列II 12色测定时的平均值 UV控制: 瞬时调整(无机械调整) *带UV400nm截断过滤(CM-2500d无UV控制机能) 测定形式: 单次测定/平均化测定...