镀层厚度测量仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.
镀层厚度测量仪可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置 戴尔计算机
分析应用软件 操作系统:Windows2000中文平台 分析软件包:SmartLink FP软件包
-测厚范围 可测定厚度范围:取决于您的具体应用。
-基本分析功能 采用基本参数法校正。根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围:CL17 – U92
镀层厚度测量仪综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
期待您的来电,金东霖 吴小姐 手机:13603036715 TEL:0755-29371651 FAX:29371653 公司网址:www.kinglinhk.com 地址:宝安中心区宏发中心大厦
LED镀层测厚仪遵循ASTM B568,DIN ENISO 3497国际标准,主要基于WinFTM? V6L核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。采用全新数学计算方法,采用的FP(Fundamental Parameter)、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算,在加强的软件功能之下,简化了测量比较复杂镀层的程序,甚至可以在不需要标准片之下,一样精准测量。 LED镀层测厚仪的特点: A:区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多4层及24种元素。 B :精确度于世界C :数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求,如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。 D :统计功能提供数据平均值、误差分析、值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。能够测量多种几何形状各种尺寸的样品; E :可测量任一测量点 LED镀层测厚仪应用领域: 1、分析电子部品电镀层的厚度 2、各类五金电镀件的镀层厚度管控分析 3、各镀层的成分比例分析。 欢迎来电!请联系,金东霖 吴小姐 手机:136030367...
金镍膜厚仪(测厚仪)能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度. 金镍膜厚仪(测厚仪)可测元素范围:氯(CL) – 铀(U)可测量厚度范围:原子序22-25,0.1-0.8μm≤26-40,0.05-35μm43-52,0.1-100μm72-82,0.05-5μmX-射线管:油冷,超微细对焦高压:0-50KV(程控)电脑系统:IBM相容,17”显示器 金镍膜厚仪(测厚仪)的性能比:能够有效并精确的测量合金属成分,只需短短数秒钟,所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。 二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。 双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。 双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。 期待您的来电,金东霖 吴小姐 手机:13603036715 TEL:0755-29371651 FAX:29371653...