X荧光测厚仪
| 价 格： | 120000.00 | |
| 型号/规格： | Thick900 | |
| 品牌/商标： | 德谱 |
Thic900 X荧光测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，它也可以进行电镀液的成分浓度测定。它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒。
深圳德谱仪器有限公司
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