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供应便携式X荧光光谱仪

价 格: 1.00

品牌:OURSTEX 型号:100FA

产品介绍
能量色散X射线荧光光谱分析仪,是利用X线管的一次X线照射到试料上所生成的荧光X线,由半导体检测器进行测量分析。不受测量样品形状的约束,迅速的进行非破坏的元素含量的分析。半导体检测器使用现在的SDD(Silicon Drift Detector)检测器,不需要液体氮气冷却,结合数字式电子信号处理DSP(Digital Signal Processor)设计,保证了激励光学原理测量的条件,充分发挥了的能量色散分解能力,实现了高分辨率、高计算能力的分析性能。

可靠的RoHS符合性筛选设备—XRF

  OURSTEX以其高性价比成为东京都环境局认定产品,现由深圳市兆威隆科技有限公司引进适用于WEEE&RoHS指令、ELV和土壤污染的检测设备:X-射线荧光光谱仪 XRF;共提供OURSTEX160RoHS、OURSTEX160Multi、OURSTEX160和OURSTEX100FA四种机型,运用于不同场合。设备拥有自身的技术专利,广泛应用于各类元素(12Mg-92U)的识别、检测与成分分析。在日本本土拥有政府机构(如:日本原子力研究所、产业技术综合研究所等)、学校(如:东京大学、大阪大学等)和企业(如sony、松下等)多达一百多家用户。

主要特点
1.采用的电子冷却式SDD检测器;不需要液体氮,降低了使用成本.
2.X线管采用钨(W74)作靶材,较一般铑(Rh45)靶材具很高的X射线
放射能量.
3.使用电源,只需 AC100~240 V 、 5 A.
4.具有高计算率·高分解能力,可以短时间内进行微量分析.
5.是 WEEE&RoHS 规定、 ELV 、土壤污染调查的最适检测仪器.
6.大型\弯曲,能分析大样品;以及贵重物品.

技术参数
测定原理:能量色散型X射线荧光分析法
测定对象:电气·电子,塑料零件,土壤等物质;大型\弯曲\贵重等物件
测定元素:Cr,Br,Cd,Hg,Pb (选配 测定范围12Mg~92U )
X线照射径:~3mmФ
样品室:密闭时:Max30mmФX35mmH。开放使用时任意。
样品室气压:大气
样品观察:彩色CCD摄像头
二组滤波器:一次滤波器(2种模式)/二次滤波器 自动切换
X射线发生部:48kV,1.75mA 50W
X射线检测器:电子冷却半导体检测器SDD(Silicon Drift Detector)
高计数技术:数字信号处理方式 DSP (Digital Signal Processor)
能量分辨率:140eV~@Mn-Kα
高计数率:300,000 (CPS)
靶材(对阴极物体):74W(钨靶材)空气冷却
使用温度:5~27℃
使用湿度:20~75%
电源:AC100V~240V,5A(推荐接不断电系统UPS)
设备:D种接地
其他(选配件):标准试料(PVC,PE,铜合金,铝合金,土壌)
        FP(Fundamental Parameter)法定量分析软件

浙江精科计量仪器有限公司
公司信息未核实
  • 所属城市:浙江 台州
  • [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
  • 联系人: 张素婷
  • 电话:0576-82525444
  • 传真:0576-82525444
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