类型:三轴向低频测振仪 品牌:日本理音 型号:VM-54 测量范围:30 , 100 , 300 , 1000 , 3000 , 10000[m/s 2 ] 频率范围:1 ~ 80 Hz 尺寸:200 ′ 56 ′ 175 mm(mm) 电源:4-IEC R14(C尺寸)电池 重量:1000(g)
VM-54三轴向低频测振仪简介:
1、容易而又简便测量,能满足 IS0 6954 标准。
2、三轴传感器,可同时测量 X、Y、Z三个方向的振动加速度或速度。
3、由于仪表具有卡槽和采用可选软件,可实现简便而又快捷的数据保存,管理,编辑。采用可选分析软件,现场进行 FFT 分析。
4、3 通道模拟 AC 输出能实现同时三轴电平参数测量记录。
5、软包装箱具有防水性能。VM-54三轴向低频测振仪参数:
可应用的标准 : ISO 6954 : 2000
输入: PV-83C ( 3 轴)或者 PV-57 (单轴)
频率范围: 1 ~ 80 Hz
频率加权: Wm(ISO 2631-2)
测量模式 : 加速度 [m/s 2 ] 或者速度 [mm/s] ( 3 轴同时测量)
测量范围 :
采用 PV-83C 时
加速度 : 30 , 100 , 300 , 1000 , 3000 , 10000[m/s 2 ]
速度: 1 , 3 , 10 , 30 , 100 , 300[mm/s] 采用 PV-57 时,
加速度: 0.3 ,1 ,3 ,10 ,30 ,100 ,300 ,1000[m/s 2 ]
速度 : 10 , 30 , 100 , 300 , 1000 , 3000[mm/s]
数据计算 : Leq , Lmax , Lmin
测量时间 : 10 秒, 1 分, 2 分, 10 分
显示屏面 : 两个液晶显示器(主和次各 1 个)
数据保存 : 人工( 3 通道同时) ( VX-54WS 中保存多达 50000 个数据)
存储器 : CF 存储卡
接口界面 : 适用于可选打印机 DPU414
输出 : 3 通道模拟输出
环境条件(工作时) : - 10 ~ +50 ° C ,相对湿度 ≤ 90%
电源 : 4-IEC R14(C尺寸)电池(用碱性电池组可连续工作16小时)
尺寸 : 200 ′ 56 ′ 175 mm
重量 : 大约为 1 kg
选购件:
1、船体振动分析卡VX-54WS
2、人体振动分析卡VX-54WB
3、电动工具振动分析卡VX-54WH
4、FFT分析卡VX-54FT
5、多种振动探头
类型:便携式频谱分析仪 品牌:美国安捷伦 型号:8594E 覆盖频率:9kHz~2.9GHz(MHz) 显示方式:数显 外形尺寸:便携式频谱分析仪(mm) 重量:便携式频谱分析仪(kg) 适用范围:便携式频谱分析仪9kHz~2.9GHz便于使用、可扩展的便携式频谱分析仪有各种范围的价格和性能可供选择用一个按钮即可进行FFT,TOI,ACP等测量具有扩展的存储器和示迹存储功能可选用窄分辨带宽可提供定制的专用测试软件8594E频谱分析仪参数:主要技术资料8590 系列配置指南,P/n 5963-6858E8590E 系列活页资料,P/n 5963-6909E8590 系列产品手册,P/n5963-6908E订货信息8591E 频谱分析仪,9kHz~1.8GHz8594E 频谱分析仪,9kHz~2.9GHz8595E 频谱分析仪,9kHz~6.5GHz8596E 频谱分析仪,9kHz~12.8GHz8593E 频谱分析仪,9kHz~22GHz常州锐品精密仪器有限公司销售各种计量检测设备、硬度计、打标机、显微镜、金相理化分析、影像测量仪、光谱仪、看谱镜、三坐标、气动量仪、探伤仪、拉力试验机、弹簧试验机,推拉力计、等精密仪器设备本店铺为实体公司,欢迎各位新老客户选购!所有产品保证货真价实,售前售后放心安心,让您网购无忧!本公司主要产品有:计量检测设备仪器、:长度类、力学类、电学类、光学类、无...
类型:涂层测厚仪 品牌:国产 型号:AT280F 测量范围:0-1250um(mm) 电源电压:二节1.5V电池(V) 外形尺寸:50×120×25mm(mm)AT280F漆膜测厚仪简介:涂层测厚仪概述 AT280F漆膜测厚仪|涂镀层测厚仪是一种经济实用型便携式测量仪,能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量,既可用于实验室,也可用于工程现场,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域,是材料保护必备的仪器。AT280F磁性测厚仪符合以下标准:§ GB/T 4956─1985 磁性方法§ JJG 818-95 《磁阻法测厚仪》§ JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪涂层测厚仪功能特点 § 采用了磁性测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等) 可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正 具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE) 具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)...