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X射线荧光镀层测厚仪 电镀测厚仪 电镀层测厚仪 电

价 格: 面议

类型:实验仪器 品牌:1 型号:1 新旧程度:9成新 设备所在地:1 设备生产产地:1 产品数量:1

仪器介绍

Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

性能特点

1、上照式
2、测试组件可升降
3、高精度移动平台
4、小准直器
5、高分辨率探头
6、可视化操作
7、自动定位高度
8、自动寻找光斑
9、鼠标定位测试点
10、良好的射线屏蔽
11、超大样品腔设计
12、测试口安全防护

技术指标

型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
一次可同时分析最多24个元素或五层以上镀层。
元素分析检出限可达2ppm,分析含量一般为2ppm到99.9%。
镀层厚度最薄可达0.005um,一般在20um内(不同材料有所不同)。
小孔准直器(最小直径0.1mm),测试光斑在0.2mm以内。
高精度移动平台(定位精度小于0.005mm)。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多次测量重复性可达0.05um(对少于1um的最外层Au)。
长期工作稳定性为0.1um(对少于1um的最外层Au)。
温度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
仪器尺寸:576 x 495x545 mm
重量:90 kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

刘超
公司信息未核实
  • 所属城市:广东 深圳
  • [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
  • 联系人: 刘超
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信息内容:

类型:分析仪器 品牌:1 型号:1 新旧程度:9成新 设备所在地:1 设备生产产地:1 产品数量:1【详细说明】EDX 1800型X荧光光谱仪性能特点可自动切换准直器和滤光片RoHS检测内置信噪比增强器,可有效提高仪器信号处理能力25倍以上智能RoHS软件,开发,与仪器相得益彰任意多个可选择的分析和识别模型多变量非线性回收程序EDX 1800型X荧光光谱仪技术指标元素分析范围从硫(S)到铀(U)。分析检出限可达1ppm。分析含量一般为1ppm到99.9%。任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序。多次测量重复性可达0.1%。长期工作稳定性为0.1%。温度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。EDX 1800型X荧光光谱仪标准配置移动样品平台。信噪比增强器。电制冷Si-PIN探测器。信号检测电子电路。高低压电源。大功率X光管。计算机及喷墨打印机EDX 1800型X荧光光谱仪应用领域RoHS检测分析。黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测。金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。地矿等资源类的全元素分析主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

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金属元素分析仪,RoHS检测仪,金属分析仪

信息内容:

型号:7200 类型:金属元素分析仪器dzsc/18/1667/18166734.jpgX射线荧光分析装置是使用X射线照射样品,对产生的荧光X射线的能量进行检测,测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析,广泛应用于各个领域。特别是最近,以欧盟的报废电子电气设备指令(WEEE)、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令(RoHS)、报废汽车指令(ELV)以及玩具指令(ASTM F963,EU_EN71)等法规为代表的绿色采购及环境分析之中,要求更为微量、更为迅速的分析。为满足这种需求,畅销全球的EDX系列达到了更高的灵敏度与精度。EDX-720的新功能:dzsc/18/1667/18166734.jpgdzsc/18/1667/18166734.jpg更高灵敏度的新型能量色散型X射线荧光分析装置!dzsc/18/1667/18166734.jpg在所有机型上配备全新的测定·解析功能!追求更高的分析精度。通过配置新型1次滤光片和高计数电路,灵敏度比以往机型提高2倍以上! 配备新型1次滤光片 为提高Cd、Pb等有害重金属的检测灵敏度,采用2 种新型滤光片。通过提高S/N比、降低散射线,得到了比以往机型更高的灵敏度。 计数系统的改进 经过改进,系统能够更高效地检测从样品产生的X射线荧光。以...

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